一、概述：

    ZJD-B型高頻介電常數測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內gao的160MHz.ZJD-C高頻介電常數測試儀采用了多項領xian技術。

雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。

雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。

計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至低，** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。

二、主要技術特性：

*1.信號源: DDS數字合成信號 100KHZ-160MHZ

*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數

3．Q值測量范圍：1～1023

4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；

*5．電感測量范圍：1nH～140mH 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能

*6．電容直接測量范圍：1pF～25nF

7．主電容調節范圍： 17～240pF

8．準確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%

9．信號源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz

10．合格指示預置功能范圍：5～1000

11．環境溫度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13. S916（數顯）介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置：

數顯式微桿，平板電容器：

極片尺寸： 38mm

極片間距可調范圍：≥15mm

夾具插頭間距：25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

測微桿分辨率：0.001mm

測試極片：材料測量直徑Φ38mm厚度可調 ≥ 15mm

*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm

14. 電感組LKI-1：

分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。

三、配置：

主機 一臺

電感 九支

夾具 一套

液體杯 一套

隨機文件一套

ZJD-C型硫化橡膠介電常數介質損耗測試儀相關標準

硫化橡膠介電常數和介質損耗角

正切值的測定方法

警告：使用本標準的人員應有正規實驗室工作的實踐經驗。本標準并未指出所有可能的安全問題。使用者有責任采取適當的安全和健康措施，并保證符合國家有關法規規定的條件。

1、范圍：

本標準規定了介電常數和介質損耗角正切值的兩種測定方法。方法A為工頻（50Hz）下的測定方法，方法B為高頻電場下的測定方法。

本標準適用于硫化橡膠。

2、規范性引用文件：

下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據本標準達成協議的各方研究是否可使用這些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件，其版本適用于本標準。

GB/T 2941 橡膠物理試驗方法試樣制備和調節通用程序（GB/T 2941-2006，ISO 23529：2004，IDT）

3、術語和定義：

下列術語和定義適用于本標準。

3.1

介質損耗 dielectric loss

絕緣材料在電場作用下，由于介質電導和介質極化的滯后效應，在其內部引起的能量損耗。

3.2

損耗角 δloss angleδ

在交變電場下，電介質內流過的電流向量和電壓向量之間的夾角（功率因數角φ）的余角（δ）。

3.3

損耗角正切 tanδ loss tangentδ

介質損耗因數 dielectric loss factor

介質損耗角正切值。

3.4

介電常數 εdielectric constant

絕緣材料在電場作用下產生極化，電容器極板間有電介質存在時的電容量C、與同樣形狀和尺寸的真空電容量C0之比。

注：不同試樣、不同電極的真空電容和邊緣校正的計算參見附錄A。

4、測試電極：

4.1 電極材料

見表1。

1——測量電極；

2——保護電源；

3——試樣；

4——高壓電極。

圖 1 板狀試樣電極配置（工頻）

4.2.1.2 方法B：采用二電極系統。電極尺寸大小與試樣尺寸相等，或電極小于試樣尺寸。板狀試樣電極直徑為φ38.0mm±0.1mm、φ50.0mm±0.1mm、φ70.0mm±0.1mm。

4.2.2 管狀試樣電極

4.2.2.1 方法A：管狀試樣電極尺寸見表3，電極如圖2所示。

1——保護電極；

2——測量電極；

3——高壓電極；

4——試樣。

圖 2 管狀試樣電極配置（工頻）

4.2.2.2 方法B：管狀試樣電極尺寸，電極如圖3所示。

管狀試樣的電極長度為50.0mm±0.1mm或70.0mm±0.1mm。

1——試樣；

2——上電極；

3——下電極。

圖 3 管狀試樣電極配置（高頻）

4.3 電極裝置

在進行高頻測試時，根據測試頻率與測試要求可用支架電極（如圖4），當頻率大于或等于1MHz且小于10MHz時，宜用測微電極（如圖5）；當頻率大于或等于10MHz時，應用測微電極。

1——上蓋螺釘；

2——上蓋板；

3——升降螺桿；

4——上電極導軌；

5——螺帽；

6——導筒；

7——導槽螺釘；

8——絕緣桿；

9——高壓電極；

10——試樣；

11——測量電極；

12——保護電極；

13——絕緣板（聚四氟乙烯板）；

14——絕緣支腳；

15——有機玻璃板。

圖 4 支架電極

1——微調管形電容器；

2——測試樣品電容器；

3——上支撐板；

4——上電極；

5——試樣；

6——下電極；

7——底板。

圖 5 測微電極

5、測試儀器：

5.1 方法A

5.1.1 測試儀器為工頻高壓電橋，其原理圖如圖6所示。

T 試驗變壓器；

C3 標準電容器；

C5 試樣；

R3 可變電阻；

C2、C4 可變電容；

R4 固定電阻；

G- 電橋平衡指示器；

P 放電器。

圖 6 工頻高壓電橋原理圖

5.1.2 測量范圍

損耗角正切（tanδ）：0.001～1；電容（C）：40pF～2000pF。

5.1.3 電橋測量誤差

測量時誤差不超過10%，當試樣tanδ小于0.001時測量誤差不超過0.0001，電容的測量誤差不超過5%，標準電容器的tanδ應小于0.0001。

5.1.4 電橋必須有良好的屏蔽接地裝置。

5.2 方法B

5.2.1 方法B的測試儀器有兩種：一種是諧振升高法（Q表），另一種時變電鈉法。

5.2.1.1 諧振升高法（Q表）

其測試原理圖如圖7所示。

A 電流表；

R0 耦合電阻；

L 輔助線圈；

C 標準電容；

C0 試樣；

V、V1 電壓表（用Q值表示）。

圖 7 Q表原理圖

5.2.1.1.1 測量范圍

頻率為50Hz～50MHz，電容40pF～500pF，Q值10～600。

5.2.1.1.2 測量誤差

電容誤差：±（0.5%C+0.1pF），Q值±10%；有關儀器的測量誤差均為±10%。

5.2.1.2 變電鈉法

其測試原理如圖8所示。

C——可調電容；

L——諧振線圈；

CT——管形微調電容；

Cu——主電容；

Cx——試樣。

圖 8 高頻介質損耗儀原理圖

6、試樣：

6.1 試樣尺寸

6.1.1 方法A試樣尺寸見表4。

6.2 試樣的制備

試樣的制備應符合GB/T 2941的規定，也可以在符合試樣厚度尺寸的膠板上用旋轉刀進行裁切，制樣方法的不同，其試驗結果無可比性。

6.3 試樣數量

試樣的數量不少于3個。

7、硫化與試驗之間的時間間隔：

試樣在硫化與試驗之間的時間間隔按GB/T2941的規定執行。

8、試驗條件：

8.1 試樣表面應清潔、平滑，無裂紋、氣泡和雜質等，試樣表面應用蘸有無水乙醇的布擦洗。

8.2 試樣應在標準實驗室溫度及濕度下至少調節24h。

8.3當試樣處理有特殊要求時，可按其產品標準規定的進行。

9、試驗步驟：

9.1 方法A

9.1.1 試驗電壓為1000V～3000V，一般情況下為1000V，電源頻率為50Hz。

9.1.2 按設備說明書正確的連接。

9.1.3 接通電源預熱30min。

9.1.4 將試樣接人電橋C、的橋臂中，加上試驗電壓，根據電橋使用方法進行平衡，讀取R3和tanδ或C4的值。