一、概述:
ZJD系列高溫寬頻介電常數(shù)測試儀用于測量電介質塊體或薄膜樣品在高低溫、真空、氣氛等條件下的介電常數(shù)和損耗、阻抗譜Cole-Cole圖、機電耦合系數(shù)。ZJD高溫寬頻介電常數(shù)測試儀是電介質材料領域較常用的測量儀器,具有快速、高效、靈活、易于操作等特點,適用于教學、科研等各種應用場合。
二、產(chǎn)品特性:
溫度范圍:-160,..1000°C (不同爐體)
測量頻率:20Hz-30MHz (不同測量儀表)
集成化設計,操作更簡單
自主設計新一代電學高溫爐,控溫精度高
被業(yè)內(nèi)認可的介電常數(shù)儀
符合標準:ASTMD150. D2149-97和T1409-2006
三、技術規(guī)格:
項目/型號 | ZJD-500 | ZJD-1000 | ZJD-2000 | |
溫度范圍 | 室溫-500℃ | 室溫-1000℃ | -160℃-450℃ | |
測量頻率 | 20Hz-1MHz | 20Hz-30MHz | ||
控溫精度 | ±1℃ | |||
溫度測量精度 | ±0.1℃ | |||
測量精度 | 0.05% | |||
控溫方式 | 連續(xù)升溫或分段升溫 | 多段PID精確控溫 | ||
升溫斜率 | 0-10℃/mm(典型值3℃/min) | |||
降溫斜率 | 0-10℃/mm(典型值3℃/min) | |||
測量環(huán)境 | 常溫、高溫、不帶真空氣氛 | 常溫、高溫、真空、氣氛 | 常溫、高溫、低溫、真空 | |
樣品規(guī)格 | 塊體樣品:φ<20mm,d<25mm薄片樣品:φ<20mm,d>21μm | 單樣品塊體:φ<20mm,d<25mm;四樣品塊體:φ<10mm單樣品薄片:φ<20mm,d>21μm;四樣品薄片:φ<10mm | ||
測量原理 | 平行板電容器原理 | |||
測量方式 | 2線-4線測量方式 | |||
電極材料 | 鉑金 | |||
顯示控制 | 彩色觸摸屏 | |||
數(shù)據(jù)接口 | USB接口 | |||
通訊接口 | - | LAN網(wǎng)口通訊 | ||
數(shù)據(jù)存儲 | TXT文本格式或XCEL格式(或安裝office軟件) | |||
測量夾具 | 單樣品夾具 | 單樣品夾具或四樣品夾具 | ||
測量樣品 | 塊體樣品或雙面電極薄膜樣品 | |||
電極材料 | 鉑金電極 | |||
控溫方式 | PID精確控溫 | |||
配套設備 | 無需外接配套設備,儀器內(nèi)置1MHz LCR測量板 | 需外接阻抗分析儀 | 需外接阻抗分析儀和低溫液氮泵 | |
供電 | 220V±10%,50Hz | |||
工作環(huán)境 | 0℃-55℃ | |||
存儲條件 | -40℃-70℃ | |||
預熱時間 | 30分鐘 | |||
尺寸(長寬高) | 475*415*610mm | 640*470*610mm | 550*420*330mm | |
重量 | 42kg | 54.5kg | 36.5kg |