英國ABI-6400與ABI-6500參數(shù)主要區(qū)別:
| 6400 | 6500 | |
| 測試范圍 | 5V數(shù)字IC | 多種電源數(shù)字IC |
| 后置驅(qū)動能力 | 400mA (MAX) | 600mA (MAX) |
| 隔離信號通道 | 4組信號 | 8組信號(支持較大驅(qū)動電流) |
| 測量電壓范圍 | +10V~ -10V | +20V~ -20V |
主要功能:
64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試
64通道V-I曲線模擬通道測試(可測模擬器件)
強大的元器件和整板仿真測試功能
閾值電平零界點掃描測試
短路追蹤測試(低電阻測試)
實時顯示輸出邏輯電平值
存儲器功能測試
數(shù)字時序編輯功能
未知器件型號查詢
程控電源供電
測試準確-源自*的測試技術(shù)
同一器件同一時間完成多種測試:功能測試,V-I曲線測試,溫度拐點系數(shù)測試,連接狀態(tài)測試,管腳電壓測試等.
圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個測試通道的邏輯時序可以由測試者圖形化自定義編輯測試完成,方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫.
整板測試非常簡單,通過圖形化的測試庫編輯器,根據(jù)電路板原理,定義輸入激勵信號及測試輸出的標準響應(yīng)信號,快速建立板測試庫,快速批量檢測電路板的功能.
邏輯電平閾值自動掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的故障元器件.
邏輯電平閾值自定義.可以設(shè)定非標準的邏輯電平閾值,檢查不穩(wěn)定的元器件.
短路電阻測量功能:三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,及檢查短路點.
輸出邏輯時序圖形顯示,具體時序電壓值顯示,方便掌握具體測試信息.
V-I曲線測試功能:可針對元器件直接進行測試,曲線電壓掃描范圍:-10v~+10v;測試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,可調(diào)整為非對稱電壓掃描信號,正負電壓可以不一致,例如:-2.5v~+10v 限度地保證測試的安全性.其輸出電流由系統(tǒng)自動調(diào)整設(shè)定.掃描信號可達幾十種.
產(chǎn)品特征:
中英文測試軟件,USB接口.
數(shù)字測試通道:64路(可擴充到256通道).
模擬測試通道64路(可擴充到256通道).
1路v-i探棒測試隔離通道:4路.總線競爭信號隔離功能:用于解除總線競爭,確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373,74LS245,等),可提供4路總線競爭隔離信號,6500可提供8路隔離信號.
能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進行在線/離線功能測試;測試庫達上萬種元器件,可以通過圖像化的編輯器自定義測試庫,可以快速擴充測試庫配有離線測試盒,快速測試批量元器件.離線測試和在線測試功能*一致.
IC型號識別:標識不清或被擦除型號的器件,可"在線"或"離線"進行型號識別測試.
讀寫存儲器功能測試5V/5A的直流電源程控自動輸出,具有過電壓及過電流保護功能.由系統(tǒng)自動控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時間.方便各種類型電路板的測試。
數(shù)字集成電路測試中集電極開路，自動上加上拉電阻。
V-I曲線測試具有單通道探筆測試功能，方便分立器件的V-I曲線測試LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對一些常見的LSI器件進行功能及狀態(tài)分析測試。
數(shù)字集成電路測試參數(shù)規(guī)格：
| 數(shù)字集成電路測試參數(shù)規(guī)格 | |
| 測試通道數(shù): | 64通道可擴展到256通道/6500可擴充2048通道 |
| 總線隔離信號通道數(shù): | 4通道or 8通道 |
| 實時比對功能: | 需有二個64通道, 或128通道 |
| 輸出驅(qū)動電壓 | TTL/CMOS 標準 |
| 輸出驅(qū)動電流: | 電流依不同的邏輯電平閾值有下列區(qū)分 |
| 一般H-L 80mA @ 0.6V | |
| 一般 L-H 200mA @ 2V | |
| Max. 400mA | |
| 驅(qū)動電壓轉(zhuǎn)換比: | >100V/μs |
| 電壓范圍: | +/-10V |
| 輸入阻抗: | 10k |
| 邏輯形態(tài): | 三態(tài)或開集極開路(內(nèi)定或由程序設(shè)定) |
| 驅(qū)動邏輯形態(tài): | Low,high,三態(tài)(tri-state) |
| 過電壓保護范圍: | <0.5v,>5.5V |
| 最長測試時間: | 根據(jù)被測元器件而定 |
| 測試方式: | 在線及離線測試(需外接離線測試盒) |
| 測試功能及參數(shù) | 參數(shù)主要區(qū)別 |
| 集成電路功能測試 | 根據(jù)元件原理和真值表進行功能測試 |
| 元器件連接特性測試 | 短路狀態(tài)偵測 |
| 懸浮(浮接)狀態(tài)偵測 | |
| 開路狀態(tài)偵測 | |
| 連接狀態(tài)偵測:6500可以自定義儀器輸出通道的電壓范圍(-10~+10v),模擬仿真測試范圍更加廣泛. | |
| 電壓測量 | 最小解析10mV范圍+/-10V |
| 具邏輯狀態(tài)偵測 | |
| VI曲線測試: | 測試通道數(shù)64 256(擴展) |
| 電壓設(shè)定范圍-10Vto+10V(可自行設(shè)定),可以設(shè)置非對稱電壓掃描 | |
| 測試電流 1mA | |
| 曲線拐點系數(shù): | 管腳的v-i曲線圖中的拐點圖形,隨溫度產(chǎn)生變化的系數(shù),對于判定溫漂的故障元件非常有助 |
電源供給規(guī)格參數(shù)：
| 自動供給電源輸出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
| (2x5V@5A固定式for128信道) | |
| 過電壓保護: | 7V |
| 過電流保護: | 7A |
| 測試模式 | |
| 單次(Single): | 單次測試 |
| 循環(huán)(Loop): | 反復(fù)測試,或條件式循環(huán)測試(PASS或FAIL) |
| 自動掃描測試: | 可找到較為嚴格的邏輯電平閾值 |
| 邏輯電平閾值設(shè)定規(guī)格參數(shù) | |
| 最小調(diào)整解析: | 100mV |
| 低信號位準: | TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
| 轉(zhuǎn)態(tài)位準: | TTL 1.0V to 2.3V/CMOS 1.0V to 3.0V |
| 高信號位準: | TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
| 掃描低邏輯范圍: | TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
| 掃描邏輯轉(zhuǎn)態(tài)范圍: | TTL 1.2V/CMOS 2.5V |
| 掃描高邏輯范圍: | TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
