高性能近紅外光譜儀，可測波長900-2300nm范圍
寬波段近紅外光譜儀特點：
-可測波長范圍900-2300nm
-適合近紅外測量和需要寬光譜范圍的應用
-512或1024像素擴展范圍InGaAs光電二極管陣列（兩種像素可選）
-集成的兩級熱電冷卻器，可在-30攝氏度下運行
-增加的氣流和專門的散熱器，以增加穩定性
-近紅外光譜儀價格適中
近紅外光譜儀廠家StellarNet制造的高性能近紅外光譜儀，型號RED-Wave-NIRX-SR，可將900到2200μm的NIR波長范圍合為一體。光譜儀非常堅固，沒有活動部件，并包裝在堅固的小型金屬外殼（2.75x 4x 6英寸）中，適用于便攜式，過程和實驗室應用。InGaAs檢測器是一個無限傳感器線性光電二極管陣列，具有512個像素（1024個可選），高度為25μmx250μm，可提供信號性能。
檢測器具有集成的兩級熱電冷卻器（TEC），保持在-20℃，穩定在+/-0.1℃之內。RED-Wave-NIRX-SR-InGaAs光譜儀使用單鏈SMA 905光纖輸入。
堅固耐用–可拆卸的光譜儀組件和控制電子設備在堅固的金屬外殼內進行保護，適用于便攜式，過程，實驗室和現場應用。
帶有預設校準，光譜儀設置和快照存儲器的板載存儲器，可提供InGaAs陣列的瞬時光譜圖像。
高速電子接口 可以直接連接到計算機的USB端口，以進行高速數據傳輸。提供Wifi /以太網通信選項以及其他接口。
近紅外光譜儀的應用包括化學吸收，水分分析，濾光片和光學組件的傳輸以及高功率輻射測量，例如激光表征。有關任何其他應用程序查詢，請聯系我們。
高性能RED-Wave-NIRX-SR光譜儀選型表：
高性能RED-Wave-NIRX-SR光譜儀，可根據表格采購適合自己使用情況的規格。一般用戶先確定波長范圍和分辨率要求，再選擇對應的光柵和狹縫。
主要選擇自己要檢測的波長范圍。例如，我需要檢測的波長是1000-2300nm，那我所選擇的規格必須包括1000-2300這段波長，此時應該選擇NIRX-SR白光系統效率曲線模型或者是NIRX-SR白光系統效率曲線模型，具體看像素和分辨率的要求
| InGaAs模型 | 像素 | 光譜儀范圍（nm） | 光柵 | 光柵范圍 | 色散（nm /像素） | 估計解析度 |
| NIRX-SR白光系統效率曲線 | 512 | 900-2300 | 300 | 1400納米 | 5.3 | <13nm |
| NIRX-SR白光系統效率曲線 | 1024 | 900-2300 | 600 | 1400納米 | 2.7 | <7nm |
| 紅波近紅外X白光系統效率曲線 | 512 | 1500-2200 | 300 | 700納米 | 1.367 | 2.8納米 |
| 紅波近紅外X白光系統效率曲線 | 1024 | 1500-2200 | 600 | 700納米 | 0.683 | 1.4納米 |
高性能RED-Wave-NIRX-SR光譜儀技術指標：
| 動態范圍：4000：1，持續6年 | 尺寸：150 x 100 x 68.8毫米 |
| 解析度：13nm，縫隙為25μm | 功耗：5 VDC時為2 Amps |
| InGaAs檢測器：512或1024像素冷卻的PDA | 接口：USB-2或無線上網2，RS232 3，SPI 3，4-20mA的3 ，數字I / O 3 或以太網3 |
| 探測器范圍：0.9-2.3μm（900-2300nm） | 數據傳輸速度：30Hz或1000Hz 1 |
| 像素大小：25um x 250um | 檢測器集成：1毫秒至200ms |
| 像素阱深度：130 x10 8個電子 | 狹縫尺寸選項：25um，以獲得性能 |
| 可選井控制：130 x10 8 或5 x10 6 el。 | 操作系統：Windows和Linux 2，Andriod 2，iOS |
| 信噪比：12000：1，帶2倍TEC冷卻 | 隨附軟件：SpectraWiz程序，WinSDK（C，C＃，VB，Delphi），可定制的LabVIEW，用于Excel的VBA（CRI和LED報告） |
| 數字化器：16位 |
RED-Wave寬波段近紅外光譜儀產品實物圖：
