Contracex-100型光學輪廓儀在*佳價格點上為精確和可重復的非接觸式表面計量設置了一個新的基準。小足跡系統提供不妥協的2D/3D高分辨率測量功能，在一個流線型封裝，融合了幾十年的布魯克白光干涉測量(WLI)的**。下一代增強包括一個新的5 MP相機和更新階段的更大的縫紉能力，和一個新的測量模式，USI，為精密加工表面，厚膜和摩擦學應用更大的方便和靈活性。您將找不到一個比Contracex-100更有價值的桌面系統。
****的計量
Contracex-100型輪廓儀是40多年來在非接觸式表面計量、表征和成像領域的專有光學**和行業地位的**。該系統利用三維WLI和二維成像技術，在一次采集中進行多次分析。Contracx-100在所有表面情況下都是穩健的，反射率從0.05%到99%不等.
不匹配值與分析
有了數千個定制的分析和Bruker的簡單而強大的VisionXpress™和VI 64用戶界面，Contracex-100臺式平臺為實驗室和工廠的生產力進行了優化。硬件和軟件相結合，提供流線型的高通量光學性能，超過可比的計量技術。
