優勢
● 基于雙折射應力測量模型實現應力瞬時測量,顯示應力二維分布偽彩圖
● 采用雙遠心檢測光路,相位延遲測量精度高
● 根據不同測量視場要求,多種鏡頭可選
● 訂制化樣品托盤,適應不同規格晶圓批量測試
適用對象
適用于三代化合物晶圓片、玻璃晶圓片、精密光學元件(平晶,棱鏡,波片,透鏡等)的內應力檢測
適用領域
面向化合物晶圓生產、光學精密加工等行業
檢測原理
● 基于偏振光應力雙折射效應檢測晶圓材料內部應力分布。當晶體材料由于內部缺陷存在應力集中時會導致應力雙折射效應,偏振光透過它時會發生偏振態調制,通過測量透射光的斯托克斯矢量可以推算出材料的應力延遲量,從而得到材料內應力分布
● 可同步集成晶圓表面缺陷暗場檢測和尺寸量測
實測案例
Strain Viewer技術規格
瑞霏光電內應力檢測儀將全口徑延遲、應力方位角等分析整合進入一鍵測量,確保客戶能快速確認工藝。