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K-8000T鍍層厚度分析儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱科邁斯(深圳)科學儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2023/9/27 12:36:56
  • 訪問次數258
產品標簽:

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科邁斯(深圳)科學儀器有限公司專門研究便攜式元素分析儀器。我們的任務是提供耐久的、實地測試的手持式X射線熒光光譜儀??七~斯儀器總部位于深圳寶安,蘇州設有分公司-科邁斯(蘇州)科學儀器有限公司。深圳總部負責手持式XRF軟硬件研發、儀器生產、大陸銷售以及海外事業部;蘇州公司主要負責手持式XRF光譜儀應用方法研究以及華東大區售前售后。KMX-RAY科邁斯儀器一直以為客戶打造一款的元素成分光譜檢測儀為己任,堅持不懈地致力于提升手持式XRF光譜儀的各項性能,以此回饋客戶的厚愛和支持。KMX-RAY科邁斯在便攜式光譜應用領域創造了巨大的價值。目前在國內成功發布K系列便攜式XRF,新款K系列分析儀更小、更輕、更快、精度更高、重復性更好。推出市場以來,以其操作簡單,快速識別,新技術等優點,迅速得到客戶認可。在合號識別、礦物探礦和冶煉、考古、有害元素分析、刑事、、制藥、土壤重金屬檢測、環境修復、食品安全、材料分析科研院所、大學機構等多行業大量應用。的客戶體驗KMX-RAY科邁斯秉承誠信、專業、共贏的經營理念,堅持客戶至上、一,以科技服務客戶,堅持技術進步、不斷創新、不斷超越。我們繼續本著用產品,為客戶提供服務為宗旨。
商品說明工業生產過程中的品質控制,高壓隔離開關觸頭鍍銀層檢測儀,銅鍍銀,鍍錫等厚度快速測試,同時滿足金屬成分的元素分析
K-8000T鍍層厚度分析儀 產品信息
商品說明

    工業生產過程中的品質控制,高壓隔離開關觸頭鍍銀層檢測儀,銅鍍銀,鍍錫等厚度快速測試,同時滿足金屬成分的元素分析。K-8000T鍍層厚度分析儀專業無損檢測作為生產過程中的品質控制與管理,確保材料品質;船舶制造、航空航天等高技術行業中合金成分的識別,從而保障產品質量與安全;電力電站等有關國計民生行業中,鑒定設備零部件成分是否達標,保證設備安全。

    隔離開關觸頭作為高壓配電設備中的重要電子電力器件,其中隔離開關觸頭上的鍍銀層,有耐磨耐腐蝕的性,能降低接觸電阻,需如果用不鍍銀的銅觸頭,銅觸頭經過氧化后電阻會明顯增加,就會產生電弧燒蝕觸點的可能,而使用銅鍍銀觸頭就可以大大減少電弧燒蝕觸點的可能。所以按照公司“關于高壓隔離開關訂貨的有關規定”的要求,高壓隔離開關主觸頭:鍍銀層厚度應不小于20um,一般觸頭鍍銀層厚度應不小于8um,硬度應不小于120韋氏。高壓隔離開關主觸頭鍍銀層也是驗收設備的重要指標之一。

 

高低壓配電柜

    而對于電鍍廠家來說,電鍍鍍銀的成本里多的就是貴金屬銀的使用量,所以鍍層越厚,對電鍍廠家的成本越高,所以一部分不良電鍍廠家,就對電鍍鍍銀厚度采用以次充好,以薄充厚,嚴重影響了高壓配電設備的驗收工作,甚至使的一部分高壓配電設備廠家被國網一而再,再而三的被通報不良產品,輕則被禁止半年到兩年的國網系統招標資格,重則直接被國網招標拉入黑名單。

目前,隔離開關觸頭鍍銀層厚度測量方法主要用手持X射線射線鍍層厚度分析儀現場測試和X射線臺式鍍層測厚儀測試。

      隔離開關觸頭鍍銀層測厚儀,是一種X射線光譜儀,通過X射線對對銀層的照射后然后的X熒光,可以分析檢測出開關觸頭上鍍銀層厚度的儀器,儀器分為手持式和臺式兩種,都可以快速、無損的通過照射幾十秒就可以測出鍍銀層的厚度,方便、快捷是電力設備生產廠家和電鍍及表面處理企業對產品鍍層厚度檢測的重要儀器。

K-8000T鍍層厚度分析儀手持式鍍層測厚分析儀配有專門針對鍍層厚度分析的專業應用軟件,具有智能化、高靈敏度、測試時間短、自動判斷是否超標、操作簡易、可實現邊測邊打功能等特點。全新的智能軟件,一鍵智能操作檢測合金成分和鍍層厚度;

K-8000T鍍層厚度分析儀合金分析儀也可快速檢測并鑒別出各種金屬的種類、含量以及雜質成分;能快速檢測并鑒別出各種高低合金鋼、不銹鋼、工具鋼、鉻/鉬鋼、鎳合金、鈷合金、鎳/鈷耐熱合金、鈦合金等各種金屬的牌號及元素含量;儀器預裝多基體標準合金庫,合金庫中包括400余種合號,用戶也可自己建立合號庫。

功能如下:

(1)智能識別基材種類的功能:立足于為用戶快速實現投資回報,提高生產率,自動識別基材種類,無需手動選擇樣品類型,然后再測試;降低操作難度,節省測試時間,不管操作人員是否有經驗,都可以在幾秒鐘內獲得合金甚至是鋁合金的牌號。

(2)完善的合金數據庫: K系列合金分析儀配有完善的合金數據庫,標準牌號庫包括500多種的合號,用戶可以輕易添加客戶的元素和牌號。

(3)檢測范圍廣:的輕元素分析功能,可以快速準確的分析常規金屬元素Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru,  Pd, Ag, Cd, Sn, Sb等。


商品參數

鍍層厚度分析方法:能量色散X射線熒光分析方法

測量鍍層范圍:0-50um

檢測鍍層種類:銅鍍銀、銅鍍錫

分析精度:單層電鍍相對誤差不超過10%

檢測時間:15-20秒

檢測窗口:12mm

合金測試元素范圍:Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Hf,Ta,W,Re,Pb,Bi,Zr,Nb,Mo,Cd,Sn,Sb等23元素


儀器參數:

1、激發源:大功率微型直板電子X射線管,激發電壓為35kV;無高壓電纜、無射頻噪聲、更好的X射線屏蔽、更好的散熱。

     固定電壓35kV,電流100uA(美國Moxtek),標配Ag靶,無電機、1個濾光片

2、探測器:Si-pin探測器(6 mm2 能量分辨率190eV FWHM)

3、運算方法:KMX-FP無標樣測試法

4、標配1個電池




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