Hiden XEMIS 磁懸浮重量吸附儀
XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技術,可在高溫、高壓條件下進行重量吸附分析,也可與其他商業化的吸附微量天平儀器聯用。
產品特點
外部感知技術,把敏感元件置于天平室外部,允許腐蝕性操作
幾何對稱、精密設計的微量天平
內部容積小化
大容量微量天平(5克),分辨率0.2μg和*穩定性±5μg
寬動態稱量范圍(0-200毫克)
操作壓力高達200bar
單獨的反應器可進行從77 K到773 K的全溫度范圍測量
無需重新歸零或原位校準
采用IGA*的終點預測方法
全金屬結構由高品質的VCR裝配
模塊化設計,與所有配件兼容且可升級
Hiden XEMIS 磁懸浮重量吸附儀 產品應用
XEMIS的應用領域:
氣體吸附分析
等溫線的測定
動力學分析
熱力學研究
儲氫
甲烷存儲
二氧化碳封存
氣體的分離與純化
超臨界氣體吸附
頁巖氣和煤層沼氣研究
離子液體中的氣體溶解度測量
化學吸附研究
化學反應的研究 (例如 氧化/氮化)
金屬有機骨架(MOFs)/多孔配位框架
活性炭、碳分子篩和模板碳
沸石和沸石類物質
多孔聚合物