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IGBT動態參數測試儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱深圳市華科智源科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2024/4/2 8:02:13
  • 訪問次數225
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   深圳市華科智源科技有限公司,是一家專業從事功率半導體測試系統自主研發制造與綜合測試分析服務的*,坐落于改革開放之都-中國深圳,核心業務為半導體功率器件智能檢測準備研制生產,公司產品主要涉及SMT*檢測儀,MOS管直流參數測試儀,MOS管動態參數測試儀,IGBT動態參數測試系統,IGBT靜態參數測試儀,在線式檢修用IGBT測試儀,變頻器檢修用IGBT測試儀,IGBT模塊測試儀,軌道交通檢修用IGBT測試儀,風力發電檢修用IGBT測試儀,產品以高度集成化、智能化、高速高精度、超寬測試范圍等競爭優勢,將廣泛應用于IDM廠商、器件設計、制造、封裝廠商及高校研究所等;
    華夏神州,科技興國,智能創新,源遠流長;華科智源公司 核心團隊由華中科技大學等國內高校研究所、行業應用專家等技術人才組建,致力于中國功率半導體事業,積極響應國家提出的中國制造2025戰略,投身于半導體測試設備。
    深圳華科智源科技有限公司-,功率器件測試方案供應商,2025中國制造 • 芯片設計及封裝 • 新能源及軌道交通 • 來料選型。

首件檢測儀,首件檢測系統,SMT智能首件檢測儀,首樣檢測,首板確認
IGBT動態參數測試儀測試方法符合GB/T29332-2012/IEC 60747-9: 200 及GB4023-83 等相關標準。采用計算機記錄測試結果,并轉化為EXCEL文件進行處理。
IGBT動態參數測試儀 產品信息

IGBT動態參數測試儀簡介

該系統是一套動態綜合測試系統、測試參數多、精度高、 具有過流、過熱、水壓不足等保護功能。具有連續工作的特點,測試程序由計算機控制,程序設定完成后可自動測試, 系統采用內控和外控兩種方式。便于工作人員操作。

HUSTEC1220 功率循環測試系統

IGBT動態參數測試儀技術指標:

加熱電流

直流50-500A 顯示精度0.1 A±3%

加熱時間

20-60s,冷卻時間:20-60s

散熱要求

1分鐘內完成器件加熱到結溫降溫到40℃的一個循環

熱敏測試單元

熱敏電流

50mA-999mA 分辨率0.1mA 精度±3%

1A-10A   分辨率0.1A  精度 0.1A±3%

熱敏電壓

1V-10V 分辨率 1mV精度±2%

 

熱阻單元

功率計算

飽和壓降 0.3-5V 分辨率 0.01V精度±2% 導通電流分辨率0.1 A精度±3% 

溫度采集

溫度采集單元分辨率0.1℃精度±0.1℃熱阻測試器件數量為1只。Vce/Ic/熱敏電壓/殼溫各采一路

循環次數

1-20000次

按時間控制

顯示每只器件的殼溫,采集殼溫的位置依據被側器件的相應標準規定

按結溫控制

顯示一只器件的結溫,6只器件殼溫

被測器件

6只(二單元串聯結構)或1只6單元 IGBT橋模塊,IGBT橋模塊按三組循環加熱、 占空比30%的工作方式進行設計和試驗

數據顯示

計算機顯示殼溫、試驗電流、試驗次數、記錄結果,并可轉為EXCEL文件

脫機顯示

脫機狀態,面板顯示6個工位的殼溫,試驗電流/次數、加熱/冷卻時間

水路

水路的回水采用開放式輸出,冷卻水路由甲方提供

電源

采用全波整流的直流電源,電流大小通過調壓器手動調節。被測器件為二單元串聯結構 時,采用6只器件串聯試驗;
被測器件為六單元全橋模塊時,負載為一只模塊。 電源共一組,輸出電流50-500A

測試參數

可測試器件穩態熱阻Rth(J-C)

散熱

設備采用水冷散熱

該系統是一套動態綜合測試系統、測試參數多、精度高、 具有過流、過熱、水壓不足等保護功能。具有連續工作的特點,測試程序由計算機控制,程序設定完成后可自動測試, 系統采用內控和外控兩種方式。便于工作人員操作。

 

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