TDS是一種質(zhì)譜儀，通過監(jiān)測在超高真空中加熱/升溫后從材料表面產(chǎn)生的氣體，可以評估表面雜質(zhì)和調(diào)查材料本身的成分，目前在半導體、液晶、有機EL、電氣、鋼鐵、汽車、陶瓷等各種領(lǐng)域，用于材料的研究和制造過程中的評估，以及質(zhì)量控制。

紅外加熱型升溫脫附質(zhì)譜儀TDS1200II是一種通過質(zhì)譜儀實時觀測樣品在超高真空中編程升溫時脫附的分子的分析儀。

由于在真空中進行測量，水，氫，氧，二氧化碳等容易產(chǎn)生高背景的成分也可以從極小的量中檢測出來。

可以對從樣品中脫附的分子進行化學物種的鑒定和定量。此外，它還提供了脫附氣體的吸附/結(jié)合狀態(tài)和擴散過程等信息。
它是測量薄膜樣品和薄板樣品的理想選擇，這些樣品容易進行紅外加熱。新款TDS1200II更新了原有TDS1200的系統(tǒng)，界面采用觸控面板。符合CE使用標準。

主要特色

● 進料固定室：能夠?qū)悠房焖俚貙氤哒婵辗治鍪遥?/span>提高測量效率（高吞吐量）和靈敏度

● 紅外加熱系統(tǒng)：通過石英棒引入的紅外線直接加熱樣品，即使在高溫區(qū)域，本底水平的升高也最小化，可實現(xiàn)高靈敏度測量

● 四級桿質(zhì)譜儀（QMS）布局：QMS電離室設(shè)置在樣品的正上方，以高靈敏度地檢測脫附氣體

● 脫附氣體的定量：當前的定量程序可以快捷、安全地定量脫附氣體