合能陽(yáng)光無(wú)接觸少子壽命測(cè)試儀（HS-MWR-SIM），是一款功能強(qiáng)大的無(wú)接觸少子壽命測(cè)試儀，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無(wú)接觸、無(wú)損傷單點(diǎn)少子壽命測(cè)試，其通過(guò)微波光電衰退特性原理來(lái)測(cè)量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無(wú)須進(jìn)行特殊處理。少子壽命測(cè)試量程從0.5μs到300μs,P型電阻率量程為0.8-100Ω.cm,N型電阻率量程為0.5-100Ω.cm，是太陽(yáng)能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)*的測(cè)量?jī)x器。
無(wú)接觸少子壽命測(cè)試儀-產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 無(wú)接觸和無(wú)損傷測(cè)量
■ 可移動(dòng)掃描頭，便于測(cè)量
■ 測(cè)試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測(cè)量
■ 主要應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過(guò)程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等
■ 性價(jià)比高，*程度地降低了企業(yè)的測(cè)試成本
■ 質(zhì)保期：1年
北京合能陽(yáng)光新能源技術(shù)有限公司是一家硅材料檢驗(yàn)儀器及服務(wù)提供商，提供全面的硅料、單晶硅片、多晶硅片等成套檢驗(yàn)設(shè)備及*解決方案。同時(shí)，拉單晶生產(chǎn)所需的輔料也是我公司主營(yíng)范圍之
少子壽儀，紅外探傷儀，氧碳含量?jī)x，橢楄儀，型號(hào)測(cè)試儀，電阻率測(cè)試儀，藍(lán)寶石等檢測(cè)設(shè)備
無(wú)接觸少子壽命測(cè)試儀 產(chǎn)品信息
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