布魯克HB NANOSTAR高亮度納米星小角X射線散射儀
— High End Instrument to Cover All the Applications

小角X射線散射技術(SAXS)主要用于研究材料的納米結構。傳統的X射線衍射技術(XRD)常用來表征納米以下尺寸的有序結構。而在納米材料領域，幾十到上百納米的結構是其研究的主要方向，而且測試的樣品從溶液、液晶、凝膠、金屬到聚合物固體等變化多端。其內部納米結構可能是周期性的，也可能是無規排列的，這已經遠遠超出了XRD能夠測試的尺度范圍和樣品種類，而這些恰恰是SAXS這種無損檢測技術所擅長的領域。因此SAXS是分析統計性納米結構所必需的工具之一。

德國制造，*。NANOSTAR同步輻射式的設計理念、可選的多種高亮度點光源、無雜散準直系統、全真空光路系統及其大面積的實時二維探測器使其可以覆蓋從液體到固體的多種應用。其應用領域包括溶膠、溶液、金屬（如上圖）、高分子（如上圖）、纖維、催化劑、蛋白質（如上圖）等。不論是各向同性樣品還是各向異性樣品均可測試和分析。

此外，完備的一鍵式數據分析軟件也讓NANOSTAR的用戶體驗越來越。

可選的多種光源
從微焦斑封閉靶到微焦斑轉靶再到液態金屬靶， NANOSTAR為客戶提供了多種選擇，也使實驗室內原位研究樣品的動態過程成為可能。

全真空光路系統
實驗的目標是消除外來因素的影響得到*屬于樣品本身的散射信號，因此去除空氣散射勢在必行。NANOSTAR全真空光路設計將空氣散射的影響降到了低值。

大面積實時二維零背景無死區探測器
獲得“R&D100”大獎的第四代探測器V2000是大面積實時二維零背景無死區探測器。140mm的直徑可在任何測試位置覆蓋大的角度范圍。低像素尺寸提供了高空間分辨率。零背景的特點對弱散射信號非常靈敏，特別適合測試小角X射線散射的樣品。

NANOSTAR不僅僅是一臺二維小角X射線散射儀，還是一臺二維廣角X射線散射儀。

通過改變樣品到探測器之間的距離可以測試不同的角度范圍。