儀器名稱： | 俄歇電子能譜（AES） | 型號： | Thermo Scientific Escalab 250Xi |
檢測項目： | 1.能分析≥20nm直徑的異物成分，且異物的厚度不受限制（能達到單個原子層厚度，0.5nm）。 2.利用AES的深度濺射功能測試≥3nm膜厚厚度。 3.利用D-SIMS結合AES能準確測定各層薄膜厚度及組成成分。 | ||
應用范圍： | 應用于鑒定樣品表面的化學性質及組成的分析，其特點在俄歇電子來極表面甚至單個原子層，僅帶出表面的化學信息，具有分析區域小、分析深度淺和不破壞樣品的特點，廣泛應用于材料分析以及催化、吸附、腐蝕、磨損等方面的研究。 | ||
制樣要求： | 1.樣品規格尺寸為1×1×0.5cm，當樣品尺寸過大需切割取樣。 2.取樣的時候避免手和取樣工具接觸到需要測試的位置，取下樣品后使用真空包裝或其他能隔離外界環境的包裝， 避免外來污染影響分析結果。 3.由于AES測試深度太淺，無法對樣品噴金后再測試，所以絕緣的樣品不能測試，只能測試導電性較好的樣品。 4.AES元素分析范圍Li-U，只能測試無機物質，不能測試有機物物質，檢出限0.1%。 | ||
PS：送樣請附帶“委托測試單”。
測試提示：
1.可開正規測試發票，附帶測試清單。
2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員，測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產生損傷，測試后會對樣品產生哪些變化；
3.客戶需提供詳細的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細測試參數及條件。和測試人員充分討論，商定最終測試條件；
4.測試人員與顧客通過或郵件溝通，出現測試糾紛，郵件或記錄將作為重要的仲裁依據；請加和技術人員交流：。
5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關法律法規的樣品，一經發現將追究其法律責任。
