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NCS Aurora研究級共焦拉曼光譜儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱鋼研納克檢測技術股份有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/5/18 12:34:23
  • 訪問次數121
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鋼研納克檢測技術股份有限公司(代碼:300797)是企業中國鋼研科技集團有限公司(鋼鐵研究總院)的二級單位,專業從事分析儀器裝備和分析檢測技術的研究、開發和應用的*創新型企業。目前公司提供的主要服務或產品包括分析檢測儀器、第三方檢測服務、標準物質/標準樣品、能力驗證服務等檢測相關產品與延伸服務。鋼研納克不僅是中國分析儀器設備制造的企業,也是國內元素檢測領域儀器種類、綜合實力的儀器裝備和分析測試技術的研究機構之一。依托國家鋼鐵材料測試中心和儀器產業基地,公司及子公司牽頭制修訂7項國際標準、參與制修訂國際標準20余項、制定170余項國家及行業標準;研制家級標準物質/標準樣品300多種。力爭成為測試儀器裝備領域有影響力的國際競爭參與者、成為具有國際影響力的材料表征評價認證的機構和綜合解決方案的提供者。鋼研納克分析儀器產品主要包含:直讀光譜儀、碳硫分析儀、氧氮氫分析儀、ICP光譜儀、ICP-MS、土壤重金屬檢測儀、食品重金屬檢測儀、波長色散X射線熒光光譜儀、金屬原位分析儀、脈沖熔融-飛行時間質譜儀、試驗機、環保監測設備等技術水平*的檢測裝備,其中多款儀器國內外空白(屬臺套)。產品質量穩定,檢測數據可靠,累計排名國內,部分產品成為同類產品的業界,牽頭制定了相關儀器和檢測標準。 鋼研納克分析儀器發展歷程1952年 鋼研納克起源于建國初期成立的鋼鐵研究總院1956年 鋼鐵研究總院測試所儀器組成立,鋼研納克儀器產業起步1977年 鋼研納克研發了一臺真空熔融氣體分析儀1991年 一臺脈沖紅外定氧儀在這里誕生,儀器產業化發展正式起步2001年 注冊成立“北京納克分析儀器有限公司”,儀器板塊進入快速發展軌道2003年 牽頭“十五”國家科技攻關計劃重大項目《科學儀器研制與開發》2006年 鋼研納克推出高品質國產火花直讀光譜儀,打破國外近半個世紀的壟斷2009年 鋼研納克單掃描ICP光譜儀實現量產,ICP產品進入產業化發展階段2011年 牽頭承擔國家重大科學儀器專項《ICP痕量分析儀器的研制》2014年 直讀光譜儀(Labspark1000)榮獲首屆“國產好儀器”稱號2014年 氧氮氫分析儀(ONH-3000)、碳硫分析儀(CS-3000G)榮獲“國產好儀器”稱號2015年 電感耦合等離子體質譜儀(PlasmaMS 300)獲得國產儀器獎BCEIA金獎2015年 食品重金屬檢測儀(NX-100F)獲得國產儀器獎BCEIA金獎2017年 直讀光譜儀(SparkCCD 6000)獲得國產儀器獎BCEIA金獎2019年 ICP光譜儀(Plasma 3000)獲得國產儀器獎BCEIA金獎
NCS Aurora研究級共焦拉曼光譜儀可靠的顯微共焦系統,自主研發的機械共焦裝置 自動切換激光光路,無需人工二次調節光路 軟件控制連續可調激發光強度。
NCS Aurora研究級共焦拉曼光譜儀 產品信息

NCS Aurora研究級共焦拉曼光譜儀

應用范圍高校和研究所的基礎科學和應用科學實驗室中在各類科研領域的應用

食藥安全等職能部門應用實驗室中對未知物質的分析及對已知樣品的比對 工業領域的研發部門中對所有物質形態樣品的原位化學成份分析 高光譜技術參數需求下基于材料成份分析和微觀結構表征的全領域應用,如礦物成分分析、藝術品鑒定等

儀器特點 

系統高度自動化,集成化,智能化,人性化

可靠的顯微共焦系統,自主研發的機械共焦裝置 自動切換激光光路,無需人工二次調節光路 軟件控制連續可調激發光強度

內置集成 LED 白光光源 內置高清晰度顯微視頻系統 自動光譜校正

光譜數據擬合

兩種廣譜采譜方式:多窗口拼接和轉動光柵 拉曼光譜成像

自動切換光柵 軟硬件同時可控的激光截止裝置 激光 / 白光光路自動切換 使用目鏡時軟件自動切斷激光

尺    寸1478 X 668 X 688 mm

顯微鏡Olympus BX 系列共焦顯微鏡,多種照明模式及開放式顯微鏡可選

CCD高靈敏度 1024 像素陣列光學 CCD,電制冷 -70 至 -100℃

光    柵

三組光柵全自動切換,多種光柵可選

(300, 600, 900, 1200, 1800, 2400 gr/mm)

激    光

NCS Aurora研究級共焦拉曼光譜儀四路激光器可選配

01) He-Ne 632.8 nm

02) 半導體泵浦全固態 532 nm

03) 半導體窄帶激光器 785 nm

04) 外置大型氣體激光器(選配)

多組物鏡可選,如 X10, X50, X100, X50 LWD,X100 LWD 等

系統光譜儀焦長

高通量光譜儀焦長 300 mm

濾波片性能

低波數性能 < 50 ± 10 cm-1

光譜范圍

0-920 nm (1800 gr/mm)            50-7960 cm-1 (532 nm, 1800 gr/mm)

0-1835 nm (900 gr/mm)            50-4970 cm-1 (632.8 nm, 1800 gr/mm)

0-2750 nm (600 gr/mm)            50-3100 cm-1 (785 nm, 900 gr/mm)

光譜分辨率< 0.8 cm-1 (Neon 585.25 nm, 2400 gr/mm, 15 μm)

靈敏度硅的三階峰信噪比好于 15:1,能檢測到硅的四階峰

重復性< ± 0.2cm-1

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