系統(tǒng)概述
西安易恩電氣 EN-2005C是一款很具有代表性的新型半導(dǎo)體晶體管圖示系統(tǒng)，本系統(tǒng)可自動生成功率器件的I-V曲線，也可根據(jù)客戶的實(shí)際需求設(shè)置功能測試，直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)在失效分析，IQC來料檢驗(yàn)及高校實(shí)驗(yàn)室等部門有廣泛的應(yīng)用。系統(tǒng)生成的曲線都使用ATE系統(tǒng)逐點(diǎn)建立，保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。系統(tǒng)典型的測試時間是6 to 20ms,通常上百個數(shù)據(jù)點(diǎn)曲線只需要幾秒鐘時間便可以展現(xiàn)出來，數(shù)據(jù)捕獲的曲線可導(dǎo)入EXCEL等格式進(jìn)一步分析研究，是一款高效多功能的半導(dǎo)體測試設(shè)備。
本系統(tǒng)使用方便，只需要通過USB或者RS232與電腦連接，通過電腦中友好的人機(jī)界面操作，即可完成測試。并可以實(shí)現(xiàn)測試數(shù)據(jù)以EXCEL和WORD的格式保存。系統(tǒng)提供過電保護(hù)功能，門極過電保護(hù)適配器提供了廣泛的診斷測試。這些自我測試診斷被編成測試代碼,以提供自我測試夾具,在任何時間都可以檢測。對診斷設(shè)備狀態(tài)和測試結(jié)果提供了可靠地保證。
系統(tǒng)軟件支持
器件測試程序的生成是通過在一臺運(yùn)行系統(tǒng)為Windows或WindowsNT的PC機(jī)上USB接口程序?qū)崿F(xiàn)的。該程序提供快速的器件測試程序生成，具有全屏顯示和增強(qiáng)型編輯幫助。
一種填空式編程方法向用戶提供簡明、直觀的使用環(huán)境。操作人員只需在提示下，輸入所選器件系列名稱和測試類型，并選擇所需測試的參數(shù)，而不必具有專業(yè)計(jì)算機(jī)編程語言知識。完成一個器件的測試程序編制只需幾分鐘的時間，非常快捷方便。
概述
EN-2005C測試系統(tǒng)通過PC機(jī)對其內(nèi)部功率源、測試施加條件、測試具體線路進(jìn)行控制，達(dá)到對器件進(jìn)行測試的目的。在一定的測試條件下，這些源與條件負(fù)載按照條件準(zhǔn)確的連接，其中包含了大量的負(fù)載、轉(zhuǎn)換功率源和所要求的外部測試線路。
測試系統(tǒng)特點(diǎn)
IV曲線顯示/局部放大，程序保護(hù)電流/電壓,以防損壞，品種繁多的曲線，可編程的數(shù)據(jù)點(diǎn)對應(yīng)，增加線性或?qū)?shù)，可編程延遲時間可減少器件發(fā)熱，保存和重新導(dǎo)入入口程序，保存和導(dǎo)入之前捕獲圖象，曲線數(shù)據(jù)直接導(dǎo)入到EXCEL，曲線程序和數(shù)據(jù)自動存入EXCEL，程序保護(hù)電流/電壓,以防損壞，測試范圍廣（19總大類，27分類）
系統(tǒng)規(guī)格及技術(shù)指標(biāo)
主極電壓： 1mV-2000V
電壓分辨率： 1mV
主極電流： 0.1nA-50A
擴(kuò)展電流： 100A
電流分辨率： 0.1nA
測試精度： 0.2%+2LSB
測試速度： 0.5mS/參數(shù)
工作溫度： 25℃--40℃
工作濕度： 45%--80%
貯存濕度： 10%--90%
工作電壓： 200v--240v
電源頻率： 47HZ--63HZ
通信接口： RS232 USB
系統(tǒng)功耗： <150w
設(shè)備尺寸： 450mm×570mm×280mm
質(zhì) 量： 35KG
測試范圍
二極管DIODE，晶體管（NPN型/PNP型），J型場效應(yīng)管J-FET，MOS場效應(yīng)管 MOS-FET雙向可控硅TRIAC，可控硅SCR，絕緣柵雙*功率晶體管IGBT，硅觸發(fā)可控硅STS
達(dá)林頓陣列DARLINTON，光電耦合OPTO-COUPLER，繼電器RELAY，穩(wěn)壓、齊納二極管ZENER三端穩(wěn)壓器REGULATOR，光電開關(guān)OPTO-SWITCH，光電邏輯OPTO-LOGIC，金屬氧化物壓變電阻MOV，固態(tài)過壓保護(hù)器SSOVP，壓變電阻VARISTOR，雙向觸發(fā)二極管DIAC
