下載地址2:使用7900ICP-MS對(duì)納米材料進(jìn)行單顆粒分析.pdf
檢測(cè)樣品:納米材料
檢測(cè)項(xiàng)目:?jiǎn)晤w粒分析
方案優(yōu)勢(shì)
在本文中,我們使用 Agilent 7900 ICP-MS 測(cè)定單個(gè)NP 峰信號(hào)并對(duì)其性能進(jìn)行了評(píng)估。7900 ICP-MS 擁有全新的正交檢測(cè)器系統(tǒng),積分時(shí)間可快至 100 μs,TRA 讀數(shù)之間無需穩(wěn)定時(shí)間,而且 TRA 模式的整體采集速度比 7700x快 30 倍,可實(shí)現(xiàn)瞬時(shí)信號(hào)的快速測(cè)量。