HAST高加速壽命偏壓老化試驗箱
絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統搭配HAST高加速老化試驗箱，可高精度連續監測，快捷評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。
HAST高加速壽命偏壓老化試驗箱
隨著電子設備在智能化的方向及小型化、輕量化發展，印制線路板的線路也越來越細，間距越來越小，絕緣層越來越薄，鉆孔尺寸也向更小更密的方向發展，并且由于信息傳輸速度的提升，使得印制板所承受的工作溫度也在不斷地上升。因此，在印制線路板的質量與可靠性測試中，CAF的測試也就變得越來越重要。
隨著電子設備在智能化的方向及小型化、輕量化發展，印制線路板的線路也越來越細，間距越來越小，絕緣層越來越薄，鉆孔尺寸也向更小更密的方向發展，并且由于信息傳輸速度的提升，使得印制板所承受的工作溫度也在不斷地上升。因此，在印制線路板的質量與可靠性測試中，CAF的測試也就變得越來越重要。
絕緣電阻劣化測試系統特點：
1.高精準測量
2.專業的工程技術能力支持
3.可靈活地同溫濕度環境試驗箱，HAST箱，PCT等設備配合測試。
主要用途
助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導電膠等有關印刷電路板、高密度封裝的材料
BGA、CSP等精細節距IC封裝件
有機半導體相關
電容、連接器等其他電子元器件及材料
各種絕緣材料的吸濕性特性評估
