納米級(jí)結(jié)構(gòu)材料簡(jiǎn)稱為納米材料（nanometer material），是指其結(jié)構(gòu)單元的尺寸介于1納米～100納米范圍之間。由于它的尺寸已經(jīng)接近電子的相干長(zhǎng)度，它的性質(zhì)因?yàn)閺?qiáng)相干所帶來(lái)的自組織使得性質(zhì)發(fā)生很大變化。并且，其尺度已接近光的波長(zhǎng)，加上其具有大表面的特殊效應(yīng)，因此其所表現(xiàn)的特性，例如熔點(diǎn)、磁性、光學(xué)、導(dǎo)熱、導(dǎo)電特性等等，往往不同于該物質(zhì)在整體狀態(tài)時(shí)所表現(xiàn)的性質(zhì)。
彼奧德TD-2200型真密度檢測(cè)儀是全恒溫智能型，測(cè)試方法上我們使用的是氦氣置換法，利用小分子直徑惰性氣體（氦氣）大限度的標(biāo)定材料孔隙空間，解決了傳統(tǒng)排液法裝置對(duì)被測(cè)材料的破壞，更是解決了水分子不能進(jìn)入較小的孔隙引起的測(cè)試誤差。
由于氣體置換法的核心探測(cè)原理是利用理想狀態(tài)方程計(jì)算材料的真實(shí)密度，理想狀態(tài)即恒溫、真空，真空條件極為容易創(chuàng)造，但恒溫條件直是該測(cè)試手段的障礙，所以溫度對(duì)測(cè)試精度的影響尤為突出，為解決溫度變化影響測(cè)試精度問(wèn)題，TD-2200型真密度儀采用專有恒溫箱技術(shù)，無(wú)論你是在室內(nèi)還是室外、冬季還是夏季進(jìn)行測(cè)試，決不存在溫度造成的測(cè)試數(shù)據(jù)偏差；較小的樣品倉(cāng)，能夠更好的測(cè)試小劑量樣品，解決了實(shí)驗(yàn)制備過(guò)程中樣品過(guò)少無(wú)法測(cè)試的問(wèn)題，同時(shí)小樣品倉(cāng)的應(yīng)用也對(duì)儀器的探測(cè)技術(shù)水平，氣路密閉性好壞、樣品倉(cāng)精度等些列應(yīng)用細(xì)節(jié)提出了更高的要求。
相關(guān)技術(shù)參數(shù)如下：
測(cè)試數(shù)據(jù)
測(cè)定體積范圍：0.01～20 cm3；測(cè)定密度范圍：0～無(wú)已知上限；精確度：優(yōu)于±0.06%，重復(fù)性：優(yōu)于±0.04%；
測(cè)試效率
分析倉(cāng)數(shù)量： 2個(gè)；測(cè)試時(shí)間：?jiǎn)谓M樣品約8分鐘，2組樣品約15分鐘；
操作顯示
10 英寸高分辨率液晶觸摸屏，嵌入式Windows CE 操作系統(tǒng)；
硬件配置
壓力控制系統(tǒng)：氣體定量倉(cāng)：標(biāo)配精準(zhǔn)加工20 cm3不銹鋼氣體定量倉(cāng)；
壓力控制：梯度注壓設(shè)置，不影響樣品結(jié)構(gòu)；
氣路控制系統(tǒng)：六位體電磁閥控制模塊；
數(shù)據(jù)處理
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：內(nèi)置測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊；數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移：USB 接口；系統(tǒng)提示音：輸出結(jié)果后，系統(tǒng)鈴音提示讀取數(shù)據(jù)；
外觀
儀器體積：L680×W360×H290 mm；儀器重量：25 KG ；
應(yīng)用領(lǐng)域
石油化工、粉體、新材料等行業(yè)的生產(chǎn)研究。具體應(yīng)用材料可包括：催化劑、濾材、核燃料、土壤、肥料、炭黑、焦炭、纖維、礦物、制藥、水泥、粉末、食品、干燥劑、粉末金屬、離子交換樹(shù)酯、硅膠、氧化鋁、、固體泡沫以及高分子聚合材料等。