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芯片老化測試Small Burn-in Test system

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公司名稱成都中冷低溫科技有限公司
品牌其他品牌
型號
所在地成都市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時間2025/1/13 13:13:55
訪問次數(shù)61

產(chǎn)品標簽:

芯片老化測試 Small Burn-in Test system 高加速老化壽命試驗箱芯片高低溫測試 zonglen

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公司介紹主營產(chǎn)品

　　成都中冷低溫科技有限公司總部位于中國成都，是一家專業(yè)的泛半導體高低溫智能裝備企業(yè)，中冷低溫主要生產(chǎn)超低溫制冷機、高低溫沖擊氣流儀(ThermoTST熱流儀)、接觸式高低溫沖擊機 (ATC/TCU)、三溫液冷機 (Chiller)、高加速壽命試驗箱(BHAST/UHAST)、晶圓卡盤(ThermoChuck)、快速溫變箱、溫度沖擊箱等，為晶圓、芯片、光通信、汽車電子、激光、集成電路、航空航天、天文探測、電池包、氫能源、移動儲能等領域的制造和測試過程中提供整套溫度環(huán)境解決方案。中冷低溫已超過15個國家提供產(chǎn)品和服務，服務網(wǎng)點遍布全國，在北京、上海、蘇州、昆山、深圳、西安、武漢、重慶設有辦事處。

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超低溫制冷機、高低溫沖擊氣流儀（ThermoTST熱流儀）、接觸式高低溫沖擊機（ATC/TCU）、三溫液冷機 (Chiller)、高加速壽命試驗箱（BHAST/UHAST）、晶圓卡盤（ThermoChuck）、快速溫變箱、溫度沖擊箱

產(chǎn)品簡介在線詢價

芯片老化測試Small Burn-in Test system，高低溫在線測試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設備。能使用戶在高低溫條件下對半導體分立器件、光耦、運放、電壓調(diào)節(jié)器等集成電路電子元器件實時測試，免去了以往要拿出高低溫箱再進行測試的不便及誤差。

芯片老化測試Small Burn-in Test system 產(chǎn)品信息

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芯片老化測試Small Burn-in Test system

高低溫在線測試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設備。能使用戶在高低溫條件下對半導體分立器件、光耦、運放、電壓調(diào)節(jié)器等集成電路電子元器件實時測試，免去了以往要拿出高低溫箱再進行測試的不便及誤差。

芯片老化測試Small Burn-in Test system

◆測試艙溫度范圍:-55℃至 +150℃(-65℃至 +200℃可選)

◆ 測試艙溫度穩(wěn)定性:±2℃

◆ 測試艙溫度穩(wěn)定均勻度:±2℃

◆ 測試艙升溫時間:從常溫升溫到+150℃用時10分鐘

◆ 測試艙降溫時間:從常溫降溫到-55℃用時20分鐘

◆ 測試艙功率:根據(jù)設定艙體溫度不同

◆ 冷卻方式:風冷機械制冷，能有效降低工作負荷更加節(jié)能可靠性更高