介電常數介質損耗測試儀是依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作，并符合JB 7770等試驗方法。
介電常數介質損耗測試儀的創新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。
介電常數介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內的160MHz。采用了多項技術：
1. 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
2. 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
3. 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。
4. 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
5. 全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
6. DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。
7. 計算機自動修正技術和測試回路化 —使測試回路 殘余電感減至， Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
介電常數介質損耗測試儀技術參數
Q 值測量范圍： 2～1023 ， 量程分檔： 30、100、300、1000，自動換檔或手動換檔
固有誤差≤5％±滿度值的2 ％（200kHz～10MHz），≤6％±滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差≤7％±滿度值的2％（200kHz～10MHz），≤8％±滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測量范圍： 4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍：1 ～ 200pF
主電容調節范圍： 18 ～ 220pF
主電容調節準確度：120pF以下±1.2pF ； 120pF以上±1％
信號源頻率覆蓋范圍： 100kHz～160MHz
頻率分段（虛擬）： 100～999.999kHz ， 1～9.99999MHz,10～99.9999MHz， 100～160MHz
頻率指示誤差： 3×10-5±1個字
測試夾具參數：
平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍：≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
4．測微桿分辨率：0.001mm
電感組參數：
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH
相關介紹
介電常數又稱電容率或相對電容率，是表征電介質或絕緣材料電性能的一個重要數據，常用ε表示。 介質在外加電場時會產生感應電荷而削弱電場，原外加電場(真空中)與最終介質中電場比值即為介電常數。其表示電介質在電場中貯存靜電能的相對能力，例如一個電容板中充入介電常數為ε的物質后可使其電容變大ε倍。介電常數愈小絕緣性愈好。如果有高介電常數的材料放在電場中，場的強度會在電介質內有可觀的下降。介電常數還用來表示介質的極化程度，宏觀的介電常數的大小，反應了微觀的極化現象的強弱。氣體電介質的極化現象比較弱，各種氣體的相對介電常數都接近1，液體、固體的介電常數則各不相同，而且介電常數還與溫度、電源頻率有關。
一些物質介電常數具有復數形式，其實部即為介電常數，虛數部分常稱為耗散因數。
通常將耗散因數與介電常數之比稱作耗散角正切，其可表示材料與微波的耦合能力，耗散角正切值越大，材料與微波的耦合能力就越強。例如當電磁波穿過電解質時，波的速度被減小，波長也變短了。
介電常數介質損耗測試儀適用于科研單學、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
介電常數介質損耗測試儀應用
介質損耗測試儀應用
絕緣材料介電常數介質損耗測試儀應用
高頻/音頻介電常數測試儀應用
絕緣材料損耗角正切值測試儀應用
橡膠塑料介質損耗測試儀應用
