基礎和自動的露點原理對于工業過程和校驗應用場合提供了高精度無漂移的可靠測量

l        基礎技術

l        速度快精度高

l        堅固可靠

l        工業標準

l        精確度 0.1℃露點

l        無漂移工作

基礎技術

把露點的光學冷凝原理作為測定氣體中的水分含量的基本方法，已經有幾百年歷史了。露點溫度（即氣體被冷卻時，水蒸氣開始冷凝成水或冰這一時刻的溫度）精確地描述了氣體的潮氣濃度。測量的主要不確定度的原因在于規定冷凝的檢測即時性，以及被測冷凝面溫度的精確性。早期的手動露點濕度儀常有工作錯誤，緣于它們的冷卻循環方法是由外部冷凍劑如二氧化碳或溶劑蒸發進行的，加之可見冷凝層所需要的時間積累，常常會導致對水分含量的低估?，F代的自動冷鏡傳感器清除了這些缺陷，提供的儀表是堅固可靠，足以滿足過程控制測量的應用要求，也可以工作在實驗室條件下。

工作原理

密析爾冷鏡傳感器有一個微型的拋光金屬鏡面，使用固態珀耳帖電加熱泵將其冷卻至被測氣體露點溫度。當溫度抵達降該露點時，鏡面會形成冷凝。一個由紅色發光二極管高增益光電探測器組成的電光回路檢測冷凝的形成。鏡面反射光強度減少量，作為儀表控制電路的反饋輸入，調整施加于珀耳帖的冷卻功率，這樣鏡面就被控制在平衡狀態中。蒸發與冷凝量以相同的速率發生。此時（由鉑阻溫度計）測量到鏡面溫度等于被測氣體的露點溫度。該過程參閱圖1所示。

在跟蹤潮氣軌跡時，形成冷凝的速度（冰結晶狀）是緩慢的，所以密析爾采用了新穎的雙光系統，測量來自鏡面的反射光和散光。使用這不同的工作方式產生的兩種信號，能檢測到更小的冷凝層，使得傳感器的工作更為精確和快速。提高跟蹤潮氣靈敏度的方式還有密析爾的加速通道技術，系統集中對冷鏡表面冷凝形成快速反應。S4000型擁有的雙光系統給予該儀表完整的測量范圍之特點，加速通道技術是S4000 RS和TRS型號的標準配件。

污染補償

任何光學系統均會受到染影響。冷鏡露點濕度儀也不例外。特別是清潔鏡面后會減少光反射，雖然對儀表性能影響微乎其微，但是日益積累超過一定程度，系統將無法準確地運作。因此，所有密析爾冷鏡儀表均植入了一個自動補償系統 － 自動平衡補償（ABC）－ 定期地重新平衡傳感光學元件，補償任何由于污染而引起的光強度地減少。Optidew 和S4000型擁有各種周期和持續時間的ABC系統，使用戶能根據特工業過程情況選擇合適的時間。儀表還有可配置的數據保持系統，在ABC階段,中保持顯示和輸出數據，允許的連續的工業過程控制。密析爾的儀表Optidew具有動態污染糾正（即DCC）。DCC是智能化的微處理器控制的系統，工作原理與ABC相同，但是檢測和補償污染更為，并能自動地糾正飽和條件，如當傳感器 處于氣體凝露的情況下。