的分析儀器助您解開納米世界的奧秘。只需單臺設備就能表征納米顆粒的三個參數：粒徑、Zeta 電位和分子量。
納米技術的研發是一個持續不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現更快的測量速度、更好的設備性能以及更低的設備運行能耗。納米技術在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學等很多領域發揮著關鍵作用。
簡單快捷的納米顆粒多參數分析！
一臺設備、三種功能，可對每個測量參數進行高靈敏度、高精度的分析。
概要：
粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 µm
SZ-100V2 系列采用動態光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實現了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品。可使用市售的樣品池，也可實現對小體積樣品的測量。
Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV
使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預測和控制樣品的分散穩定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩定，這對于產品配方的研究工作具有重大的意義。
分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da
通過測量不同濃度下的靜態光散射強度并通過德拜記點法計算樣品的分子量 (Mw) 和第二維里系數 (A2 )。
SZ-100V2 系列具有良好的復雜信息處理能力和學習能力，可快速確定納米顆粒的特性！
SZ-100V2 系列具有雙光路設計，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質、聚合物等。
使用單臺設備即可表征納米顆粒的三大參數——粒徑、Zeta 電位和分子量
HORIBA研發的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。
HORIBA研發的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。
配置：
SZ-100-S2 測量規格
| 型號 | SZ-100-S2（粒徑和分子量測量） |
|---|---|
| 測量原理 | 粒度測量：動態光散射 分子量測量：德拜記點法（靜態散射光強度） |
| 測量范圍 | 粒徑：0.3 nm 至 10 μm 分子量：1000 至 2 × 10 7 Da（德拜記點） 540 至 2× 10 7 Da（MHS 方程）*1 |
| 樣品濃度 | 40%*2 |
| 粒度測量精度 | 以100 nm的聚苯乙烯乳膠球體為例，其測量精度為 ±2% （不包括標準顆粒本身的變化） |
| 測量角度 | 90°和173°（自動或手動選擇） |
| 樣品池 | 比色皿 |
| 測量時間 | 常規條件下約 2分鐘（從測量開始到顯示粒度測量結果） |
| 所需樣品量 | 12 μL *3至 1000 μL（因比色皿材料而異） |
| 分散劑 | 水、乙醇、有機溶劑 |
*1：Mark-Howink-Sakurada 方程，取決于樣本。
*2：取決于樣品。
*3：F 微型電池。
SZ-100-Z2 測量規格（粒度和分子量測量規格與 SZ-100-S2 相同。）
| 型號 | SZ-100-Z2（帶Zeta電位測量單元） |
|---|---|
| 測量原理 | Zeta 電位測量：激光多普勒電泳 |
| 測量范圍 | -500 至 +500 mV |
| 適合測量的尺寸范圍 | 最小 2.0 nm， 100 μm *4 |
| 測量電導率范圍 | 0 至 20 S/m*5 |
| 樣品濃度 | 40% *6 |
| 樣品池 | 石墨電極電位樣品池 |
| 測量時間 | 常規條件下約 2分鐘 |
| 所需樣品量 | 100 μL |
| 分散劑 | 水 |
*4：取決于樣品。
*5：推薦的樣品電導率范圍：0 到 2 S/m。
*6：取決于樣品。
儀器規格（SZ-100-S2 和 SZ-100-Z2）
| 測量單元光學系統 | 光源：二極管泵浦倍頻激光器（532 nm，S2 / Z2 10 mW，HS2 / HZ2 100 mW） 檢測器：光電倍增管（PMT） |
|---|---|
| 激光分類 | 一級 |
| 工作溫度和濕度 | 15 - 35 °C，RH 85% 或更低（無冷凝） |
| 支架溫度控制溫度設置 | 0 - 90 °C（石墨電極電位樣品池控溫可達 70 °C） |
| 吹掃 | 可以連接干燥氣體吹掃端口管。 |
| 電源供應 | 交流 100 - 240 V，50/60 Hz，150 VA |
| 外觀尺寸 | 528 (W) x 385 (D) x 273 (H) mm（不包括突出部分） |
| 重量 | 25 kg |
| 電腦 | 帶有一個可用 USB 端口的 Windows 計算機 |
| 界面 | USB 2.0（測量單元和 PC 之間） |
| 操作系統 | Windows® 10 32/64 位 |
尺寸（毫米）
附件
粒徑測量樣品池
| 單元名稱 | 最小音量 | 溶劑 | |
|---|---|---|---|
| A | 一次性樣品池 | 1.2 mL | 水性 |
| B | 半微量池 | 500 µL | 水性，非水性 |
| C | 玻璃池 | 1.2 mL | 水性，非水性 |
| D | 一次性半微量池 | 600 µL | 水性 |
| E | 樣品池（帶蓋） | 1.2 mL | 水性，非水性 |
| F | 微量池（僅側面檢測） | 12 µL | 水性，非水性 |
| G | 亞微量池 | 200 µL | 水性，非水性 |
| H | 流動池 | 100 µL | 水性，非水性 |
Zeta電位樣品池
用于水相測量的石墨電極電位樣品池， 每盒20個，每個樣品池體積為 100 µL。
有機溶劑電位樣品池，體積為100 µL
應用：
蛋白質的 Zeta 電位  在本簡報中介紹了 SZ-100 的測量數據，通過碳涂層電極電位槽，可有效地對蛋白質的Zeta電位進行測量。 | 聚電解質的Zeta電位  聚乙烯亞胺 (PEI) 的Zeta 電位是使用 SZ-100 納米粒子分析儀進行測量的。帶電聚合物即聚電解質可以使用 SZ-100 進行分析 | |
粘土Zeta電位測量在廢水處理中的應用  在本說明中，分析了混凝劑選擇和濃度對懸浮粘土處理的影響 | 香精乳液的2種粒徑測量方法比較  現如今有兩種光學技術可用于表征乳液，即激光衍射法和動態光散射法。 這兩種分析技術都具有快速可靠的優點。 然而，由于分析原理的差異，對于同一種樣本進行分析會獲得不同的結果 | |
利用Zeta電位優化廢水處理  懸浮固體是工業和采礦作業廢水中的常見雜質。為了使水清澈，常用方法是沉降處理。這些過程的持續時間與懸浮顆粒的粒度分布緊密相關。因此，如果可以使顆粒聚集，則沉降過程更短，處理操作更快且成本更低 | 通過DLS測定二氧化硅顆粒的尺寸  在本應用說明中，分析了兩種不同二氧化硅分散體的粒徑，以證明 SZ-100 對此類材料的供應商和用戶的實用性 | |
納米粒子分析  納米技術極其多樣化，從傳統器件物理的新擴展到基于分子自組裝的全新方法，再到開發具有納米級尺寸的新材料。與宏觀尺度相比，縮小到納米尺度的材料可以表現出不同的特性，從而實現的應用 |
