BW-4022C
半導體綜合測試系統
BW-4022C半導體綜合測試系統可同時針對：
【光耦】
適用于〖三極管管型光耦/可控硅光耦/繼電器光耦〗進行測試。
【二極管】
〖Diode /穩壓Diode/ZD/SBC/TVS/整流橋堆〗進行測試。
【壓敏電阻】
〖Kelvin /Vrrm /Vdrm /Irrm /Idrm /△Vr〗進行測試。
【鋰亞電池】
〖Kelvin/電池空載電壓（Vbt）/負載電壓(Vbt_load ) /測試電流（0-10A 恒流 ）/負載電壓變化值（▲Vbt_load）/電池內阻(Vbt Res) 等進行測試。
【晶振】
〖震蕩頻率(Freq_osc )/諧振電阻（Ri）/頻率精度(Freq_ppm)/測試頻率范圍（10kHz~10MHz）等測試。
【其他測試功能可定制拓展】【產品詳細參數資料請向廠家索要】
BW-4022C半導體綜合測試系統是針對于半導體器件開發專用測試的系統，經我公司產品升級與開發，目前亦可以對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種器件進行參數測試，性能、精度、測試范圍均滿足客戶測試需求，可用于客戶端來料檢驗、研發分析、 產品選型等重要檢測設備之一。
BW-4022C 半導體綜合測試系統采用大規模 32 位 ARM&MCU 設計， PC 中文操作界面，程控軟件基于 Lab VIEW 平臺， 填充調用式菜單操作界面，測試界面簡潔 靈活、人機界面友好。配合開爾文綜合集成測試插座，根據不同器件更換測試座配合，系統可適配設置完成對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種元件的靜態參數測試。
該測試系統主要由測試主機和程控電腦及外部測試夾具三部分組成，并接受客戶端MES系統進行測試指令：方案選取/開始/暫停/停止/數據上傳等操作執行，并可將測試數據上傳至MES系統由客戶端處理。
一、 設備規格與環境要求
物理規格
主機尺寸：深 660*寬 430*高 210(mm) 臺式
主機重量：＜25kg
產品色系：白色系
工況環境
主機功耗：＜300W
海拔高度：海拔不超過 1500m；
環境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；
相對濕度： 20%RH～75%RH (無凝露，濕球溫度計溫度 45℃以下)；
大氣壓力：86Kpa～106Kpa；
防護條件：無較大灰塵，腐蝕或可燃性氣體，導電粉塵等；
供電要求
電源配置：AC220V±10%、50Hz±1Hz；
工作時間：連續；
二、測試種類與技術指標
1、光耦測試：
輸入（Input）相關參數
·正向電壓
·反向電流
輸出（Output）相關參數
·集電極暗電流
·集電極 - 發射極擊穿電壓
·發射極 - 集電極擊穿電壓
·集電極電流（Collector Current）：
·電流傳輸比（Current Transfer Ratio）
傳輸特性
·集電極 - 發射極飽和電壓
·隔離電阻（Isolation Resistance）
（以上參數基于晶體管LTV-816-Cu series特性參數）
·三極管管型光耦
·可控硅光耦
·繼電器光耦
2、二極管類測試
二極管類：二極管
二極管類：穩壓二極管
二極管類：穩壓二極管
·ZD（Zener Diode）
·Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz；
二極管類：三端肖特基二極管 SBD（SchottkyBarrierDiode）
二極管類： 瞬態二極管
二極管類：整流橋堆
二極管類：三相整流橋堆
3、壓敏電阻測試
·Kelvin 、Vrrm 、 Vdrm 、Irrm 、Idrm 、 △Vr ;（參數配置精度與二極管一致）
4、鋰亞電池測試
·Kelvin(0~150mV)
·電池空載電壓（Vbt） 0-100V +-0.2%
·負載電壓(Vbt_load ) 0-100V +-0.5% 測試電流（0-10A 恒流 ）
·負載電壓變化值（▲Vbt_load）0-10v +-5% 測試電流（0-10A 恒流 ）
·電池內阻(Vbt Res) 0-10v +-5% 測試電流（0-10A 脈沖 ）
5、晶振測試
·震蕩頻率(Freq_osc )
·諧振電阻（Ri）
·頻率精度(Freq_ppm)
·測試頻率范圍（10kHz~10MHz）
| 測試參數 | 符號 | 量程 | 測試范圍 | 測試條件 | 測量精度 |
| 震蕩頻率 | Fosc | 10kHz~100kHz 100kHz~1MHz 1MHz~5MHz 5MHz~10MHz | 10kHz~10MHz | 0.1Hz | |
| 諧振電阻 | Rz | 0~100K | ±10% | ||
| 頻率精度 | ppm | 0-1000 | 0.01% |
三、參數配置與性能指標
1.電流/電壓源 VIS自帶VI測量單元
1）加壓（FV）
產品詳細資料請向廠家詢問索取
