大稱量電子天平YP40000大稱量電子天平YP40000
    大稱量YP電子天平具有流暢新穎的外型，全新的設計，使稱重的反應速度更快，定點更迅速。*的金屬底座及機械構造，確保了天平的穩定性，增加了天平的抗干擾。交直流兩用，便于攜帶和野外操作。
同時，本公司還可以根據客戶的要求進行特殊規格 。

大稱量電子天平


特點：
  *的外型設計使產品具有高穩定，背光液晶顯示屏，使操作者視覺更舒適。
  內置RS232C輸出接、交直流兩用。

功能：
  具有多種計量單位轉換、計數、百分比、校準多點選擇，記憶以及動物稱量功能。
  內置RS232C輸出接口可以與計算機、打印機等設備連接使用。

YP系列技術參數

產品名稱：數字式照度計 照度計 產品型號：TES-1330A

數字式照度計 照度計型號：TES-1330A

顯示器 3 1/2位液晶顯示  
測量范圍 20/200/2000/20000 Lux  
(1330 also Footcandle for 1334A)  
200/2000/20000/200000 Lux (1332A)  
20000 lux-reading x 10;  
200000 lux-reading x 100  
過載顯示 Hightest digit of (1) is displayed  
分辨率 0.01 Lux(1330A,1334A) & 0.1 Lux(1332A)  
準確度 ±3% rdg ± 0.5% f.s.(＜10,000 lux)  
±4% rdg ± 10dgts (＞10,000 lux)  
(以色溫2856 K標準平面燈校正)  
重復測試 ±2%  
溫度特性 ±0.1% /℃  
取樣率 Approx. 2 times/sec.  
記錄器輸出 DC 2V/f.s. (滿刻度) (TES-1332A)  
操作及儲存溫濕度 0°to 40℃ (32℉ to 104℉) ＜ 70% R.H.  
電源 one 9V battery  
光檢測器尺寸 100mm(L) x 60mm(W) x 27mm(H)  
電表 尺寸 135mm(L) x 72mm(W) x 33mm(H)  
重量 250g  
附件 使用說明書,皮盒,9V電池

產品名稱：連續變倍應力儀 產品型號：WYL-2D/2E

連續變倍應力儀型號：WYL-2D/2E  
特點  
1、應力測定范圍 560nm（一級干涉色）  
2、全波片光程差560nm（毫微米）  
3、有立體感強的清晰而正立的圖象  
4、連續變倍即只需一次調焦，就能隨意設定合適的放大率  
5、可接配攝像或常規及數碼照相系統（選配）  
規格  
1、全波片光程差：560nm（毫微米）  
2、目鏡筒：雙目，三目。雙目瞳距：55-77mm.視度調節：±5屈光度°  
3、照明系統：可調上光源鹵素燈15W/6V,下光源LED燈10W/9V  
4、包裝規格長×寬×高（46×32×30cm）  
5、重量：毛重7.5kg,凈重：6.5kg  
6、放大倍率： 
物 鏡：0.7-4.5× 
目 鏡：WF10× 
總放大率 ：7-45× 
視場直徑mm：31.2-5.1 
工作距離：93

產品名稱：雙電測數字式四探針測試儀 產品型號： ST2263

雙電測數字式四探針測試儀型號： ST2263 
概述  
     ST2263型雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測-改進形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。   
      ST2263型雙電測數字式四探針測試儀成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。      
      ST2263型雙電測數字式四探針測試儀主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤和數碼開關輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成，也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結果數據由主機數碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！  
     
     探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。  
     測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。      
          詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入  
      ST2263型雙電測數字式四探針測試儀具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。  
     儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。  
三、基本技術參數      
3.1  測量范圍      
    電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm  
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□  
    電  阻：1×10-5～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω  
3.2  材料尺寸(由選配測試臺決定和測試方式決定)  
    直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限  
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.  
    長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.  
    測量方位: 軸向、徑向均可  
3.3.  4-1/2 位數字電壓表：  
    (1)量程： 20.00mV～2000mV  
    (2)誤差：±0.1%讀數±2 字  
3.4  數控恒流源  
   (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A  
   (2)誤差：±0.1%讀數±2 字  
3.5  四探針探頭（選配其一或加配全部）  
   (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調  
   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調  
3.6 電源      
   輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W  
3.7 外形尺寸：  
   主機  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高）