多功能局部放電檢測(cè)儀測(cè)量系統(tǒng)
系統(tǒng)的功能和特點(diǎn)
1） 系統(tǒng)功能
- 能檢測(cè)放電量，放電相位，放電次數(shù)等基本局部放電參數(shù)，并可按照求，提供有關(guān)參數(shù)的統(tǒng)計(jì)量。
- zui小測(cè)量放電量：1mV； 測(cè)量頻率:300kHz－30MHz； 放電脈沖分辨率：10µs； 相位分辨率：0.18°。
- 能顯示工頻周期放電圖、二維（q-φ,N-φ,N-q）及三維（N-q-φ）放電譜圖。
- 利用Access構(gòu)建的數(shù)據(jù)庫(kù)，可記錄測(cè)量相序、放電量、放電相位、測(cè)量時(shí)間等相關(guān)參數(shù)，可提供放電趨勢(shì)圖并具有預(yù)警和報(bào)警功能，可對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行查詢、刪除、備份以及打印報(bào)表等。
2） 系統(tǒng)特點(diǎn)
抗*力強(qiáng)，系統(tǒng)采用寬頻帶檢測(cè)技術(shù)，應(yīng)用雙傳感器定向耦合脈沖信號(hào)并利用寬頻差動(dòng)電流脈沖極性鑒別法進(jìn)行在線的干擾抑制，以剔除zui難消除的隨機(jī)脈沖型干擾（發(fā)明）；再加上設(shè)置閥值電壓、數(shù)字濾波、小波分析等其他綜合抗干擾措施，使測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠。
采用虛擬儀器技術(shù)，將硬件模塊與計(jì)算機(jī)結(jié)合，利用LabVIEW編寫軟件，通過(guò)界面操作，實(shí)現(xiàn)各種功能，并便于進(jìn)一步開(kāi)拓。
多功能局部放電檢測(cè)儀測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品參數(shù)：
◆ 檢測(cè)的電容范圍：6PF～250 uF
◆ 檢測(cè)靈敏度<O．02pc(電容50PF)h
◆ 橢圓掃描時(shí)基：50Hz、100 Hz、150 Hz、200 Hz、400 Hz
◆ 橢圓旋轉(zhuǎn)以30 º為一檔，可作120 º旋轉(zhuǎn)
◆ 放大器：3db低端頻率fL：10k Hz、20 k Hz、40 k Hz任選：
◆ ：80 k Hz、200 k Hz、300 k Hz任選。
◆ 增益調(diào)節(jié)范圍>120db。檔間增益差20±ldb，
◆ 正負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱性<]dB
◆ 時(shí)間窗：窗寬15º~150º，窗位置可旋轉(zhuǎn)Oº~170º
◆ 脈沖峰值表：數(shù)字表頭以3½ 位LED數(shù)字表，顯示O～1000,誤差<3％(以滿度計(jì))
◆ 試驗(yàn)電壓表：量程50kV(可擴(kuò)展)，3½位LED數(shù)字表，顯示0~1000，。誤差<±2％
主要技術(shù)指標(biāo)
1．可測(cè)試品的電容量范圍：6pf～250uf。
2．檢測(cè)靈敏度：<0.02pc（電容50pf時(shí)）。
3．放大器：低端頻率f1 10、20、30、50、80kHz任選，頻率fh 100、200、300、400、500KHz任選。增益調(diào)節(jié)范圍>120db，檔間增益差20±1db。正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱性<1db。
4．時(shí)間窗：窗寬1°～360°，窗位置可任意旋轉(zhuǎn)。
5．試驗(yàn)電壓表：0～200kV，數(shù)字表顯示時(shí)誤差<3%F.S。
6．采集通道：4通道/卡。
7．輸入阻抗：1MΩ。
8．采集卡zui高采樣率：20MHz。
9．AD分辨率12BIT。直流精確0.2%。
1O．每通道采樣長(zhǎng)度：8M。
11．觸發(fā)方式：手動(dòng)、外觸發(fā)、內(nèi)觸發(fā)。
12．采集卡帶寬：3MHz（-3DB）。
13．重量：約15kg。
名詞、術(shù)語(yǔ)
1．局部放電局部放電是指在絕緣的局部位置放電，它并不構(gòu)成整個(gè)絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內(nèi)部放電（在介質(zhì)內(nèi)部）、沿面放電（在介質(zhì)表面）、電暈放電（在電極*）。2．電荷量q在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷量。3．視在放電量校準(zhǔn)器視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器，試驗(yàn)前它以輸出某固定電量加之試品兩端，模擬該試品在此電量下放電時(shí)局部放電測(cè)試儀的響應(yīng)，此時(shí)調(diào)整刻度系數(shù)，確定局部放電檢測(cè)儀的量程，以便在試驗(yàn)時(shí)測(cè)量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時(shí)以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測(cè)出，而非直接測(cè)出，故此放電量稱為“視在放電量”。校正電量發(fā)生器是測(cè)量局部放電時(shí)*的儀器，它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器和校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成，其參數(shù)主要包括：脈沖波形上升時(shí)間、衰減時(shí)間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準(zhǔn)電容值等。校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時(shí)間為從0.1U0到0.9U0的時(shí)間，衰減時(shí)間定義為從峰值下降到0.1U0的時(shí)間。4．檢測(cè)阻抗檢測(cè)阻抗是拾取檢測(cè)信號(hào)的裝置，在使用中，應(yīng)根據(jù)不同的測(cè)試目的，被試品的種類來(lái)選擇合適的檢測(cè)阻抗，以提高局部放電測(cè)量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。檢測(cè)阻抗按調(diào)諧電容范圍分1～12號(hào)。（見(jiàn)表1）5．時(shí)間窗(門單元)時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號(hào)進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計(jì)的一種電路裝置。因在實(shí)際試驗(yàn)時(shí)，尤其是在現(xiàn)場(chǎng)做試驗(yàn)時(shí)，不可避免地會(huì)引入一些干擾，所以，時(shí)間窗的使用更顯得重要。時(shí)間窗的工作原理是把橢圓掃描時(shí)基分成導(dǎo)通(加亮區(qū)域)和截止(未加亮區(qū)域)兩部分,通過(guò)改變時(shí)間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導(dǎo)通(加亮區(qū)域)，干擾脈沖置于截止(未加亮區(qū)域)，此時(shí)儀表讀數(shù)即為放電脈沖數(shù)值，而干擾則不論大小，皆不會(huì)影響放電脈沖數(shù)值。若此時(shí)兩個(gè)時(shí)間窗同時(shí)關(guān)閉，則儀表讀數(shù)為整個(gè)橢圓上脈沖之峰值。
