局部放電測試儀技術(shù)的作用

局部放電測試儀是絕緣介質(zhì)中的一種電氣放電，這種放電制在被測介質(zhì)中一部分且只使導體間的絕。緣局部橋接這種放電可能發(fā)生或可能不發(fā)生于導體的鄰近電力設(shè)備絕緣中的某些薄弱部位在強電場的作用下發(fā)生局部放電測試儀是高壓絕緣中普遍存在的問題雖然局部放電測試儀一般不會引起絕緣的穿透性擊穿但可以導致電介質(zhì)特別是有機電介質(zhì)的，局部損壞若局部放電測試儀長期存在在一定條件下會導致絕緣劣化甚至擊穿對電力設(shè)備進行局部放電測試儀試驗不但能夠了解設(shè)備的絕緣狀況還能及時發(fā)現(xiàn)許多有關(guān)制造與安裝方面的問題確定絕緣故障的原因及其嚴重程度。因此對電力設(shè)備進行局部放電測試儀測試是電力設(shè)備制造和運行中的一項重要預(yù)防性試驗我國國家標準和電工委員會都對此提出了相應(yīng)規(guī)范局部放電測試儀檢測技術(shù)即是在這個背景下快速發(fā)展起來·

1.電檢測法局部放電測試儀直接的現(xiàn)象即引起電極間的電荷移，動每一次局部放電測試儀都伴有一定數(shù)量的電荷通過電。介質(zhì)引起試樣外部電極上的電壓變化另外每，次放電過程持續(xù)時間很短在氣隙中一次放電過程在10ns量級在油隙中一次放電時間也只有1ms根據(jù)Maxwell電磁理論如此短持續(xù)時間的放電脈，沖會產(chǎn)生高頻的電磁信號向外輻射局部放電測試儀電檢測法即是基于這兩個原理常見的檢測方法有脈沖電流法無線電干擾電壓法介質(zhì)損耗分析法等等特別是20世紀80年代由S.A.Boggs博士和G.C.Stone博士提出的超高頻檢測法近年來得到廣泛關(guān)注。并逐漸有實用化的產(chǎn)品問世2.1.1脈沖電流法脈沖電流法是一種應(yīng)用為廣泛的局部放電測試儀測試方法電工委員會IEC專門對此方法制定了相關(guān)標準IEC-270該標準規(guī)定了工頻交流下局部放電測試儀的測試方法同時此方法也適合于直流條件下的局部放電測試儀測量脈沖電流法的基本測試回路分為直測法和平衡，法兩種直測法常遇到各種干擾特別是在現(xiàn)場環(huán)境下會嚴重影響測試靈敏度而平衡法由于其抑制共模干擾的優(yōu)良性能得到廣泛采用平衡法測試回路有西林電橋差分電橋以及雙電橋等形式，目前西林電橋干擾抑制比可達到幾十差分法可達到數(shù)百甚至上千但是平衡法的測量靈敏度一般，比直測法低脈沖電流法應(yīng)用廣泛目前市場上大部分電類局部放電測試儀測試儀都采用直測法回路如瑞士Haefely，公司的TE571局部放電測試儀測試儀JFD-2局部放電測試儀測試儀等等湖北省電力試驗研究院于2003年曾對三，峽工程左岸電站2號TWUM-840MVA/550kV變壓器進行了現(xiàn)場局部放電測試儀的離線檢測檢測時小背景干擾3.5pC小檢測量33.5pC。1.2無線電干擾電壓法RIV無線電干擾電壓法包括射頻檢測法早可追溯到1925年Schwarger發(fā)現(xiàn)電暈放電會發(fā)射電磁波通過無線電干擾電壓表可以檢測到局部放電測試儀的發(fā)生國外目前仍有采用無線電干擾電壓表檢測局部放電測試儀的運用在國內(nèi)常用射頻傳感器檢測放電故又叫射頻檢測法較常用射頻傳感器有電容傳感器Rogowski線圈電流傳感器和射頻天線傳感器等。Rogowski線圈電流傳感器是20世紀80年代由英國的Wilson等人提出1996年吳廣寧等人對，該傳感器做出改進設(shè)計出用于大型電機局部放電測試儀。在線監(jiān)測用的寬頻電流傳感器并獲得實用新型zhuanli  ZL97242089.4該傳感器在我國陜西秦嶺發(fā)電廠蘭州西固熱電廠已有應(yīng)用[9]清華大學*恒等人將此傳感器用于大型汽輪發(fā)電機-變壓器組的局部放電測試儀在線監(jiān)測并在元寶山發(fā)電廠投入試運行取得一定效果RIV方法能定性檢測局部放電測試儀是否發(fā)生甚至可以根據(jù)電磁信號的強弱對電機線棒和沒有屏蔽層的長電纜進行局部放電測試儀定位采用Rogowski線圈，傳感器也能定量檢測放電強度且測試頻帶較寬1~30MHz現(xiàn)場測試證明該方法具有較好的實用價值。1.3超高頻UHF局部放電測試儀檢測技術(shù)在20世紀80年代以前市場上局部放電測試儀檢測儀的工作頻帶僅在1MHz以下1982年Boggs和Stone在他們的試驗中使測試儀器的測量頻帶達到1GHz成功的測試出GIS中的初始局部放電測試儀脈沖[5]在此頻帶下噪聲信號衰減劇烈可有效的實現(xiàn)噪聲抑制且可以基本無損的再現(xiàn)局部放電測試儀脈沖從而深化對局部放電測試儀的機理性研究。超高頻檢測又分為超高頻窄帶檢測和超高頻超寬頻帶檢測前者中心頻率在500MHz以上帶寬十幾MHz或幾十MHz后者帶寬可達幾GHz由于超高頻超寬頻帶檢測技術(shù)有噪聲抑制比高包含信息多等優(yōu)點受到人們的關(guān)注通常所說的超高頻檢測技術(shù)即指超高頻超寬頻帶檢測，用于超高頻局部放電測試儀檢測的傳感器主要為微帶，天線傳感器利用微帶天線作傳感器早在1980年Kurtz等人就提出過他們設(shè)計的傳感器用于大型電機局部放電測試儀測試安裝在一個或兩個磁極上可探測到單根定子線棒的放電目前微帶天線傳感器已在檢測大型電力變壓器GIS電力電纜等設(shè)備的局部放電測試儀上有相關(guān)應(yīng)用對于大電機局部放電測試儀檢測，H.G.Sedding等人在1991年提出一種定子槽耦合器statorslotcoupler該傳感器由接地平面帶狀感應(yīng)導體及兩端同軸輸出電纜組成其耦合方式既不是感性也不是容性而是具有分布參數(shù)的性質(zhì)因此具有非常寬的頻帶且能夠反映內(nèi)部放電和外部干擾在波形上的差異。1.4介質(zhì)損耗分析法DLA局部放電測試儀對絕緣材料的破壞作用是與局部放電測試儀，消耗的能量直接相關(guān)的因此對放電消耗功率的測量很早就引起人們的重視在大多數(shù)絕緣結(jié)構(gòu)中，隨著電壓的升高絕緣中氣隙或氣泡的數(shù)目將增加此外局部放電測試儀的現(xiàn)象將導致介質(zhì)的損壞從，而使得tgd大大增加因此可以通過測量tgd的值來測量局部放電測試儀能量從而判斷絕緣材料和結(jié)構(gòu)的性能情況。介質(zhì)損耗分析法特別適用于測量低氣壓中存在，的輝光或者亞輝光放電由于輝光放電不產(chǎn)生放電脈沖信號而亞輝光放電的脈沖上升沿時間太長，普通的脈沖電流法檢測裝置中難以檢測出來但這種放電消耗的能量很大使得Dtgd很大故只有采用電橋法檢測Dtgd才能判斷這種放電的狀態(tài)和帶。來的危害。但是。DLA方法只能定性的測量局部放電測試儀是否發(fā)生基本不能檢測局部放電測試儀量的大小這限制了。DLA方法的運用目前關(guān)于用DLA方法測局部放，電的報道還很少。以上列舉了一些電力設(shè)備常用局部放電測試儀檢測方法從目前市場上看電測法仍是局部放電測試儀檢測中，重要的手段其中的脈沖電流法已經(jīng)很成熟由于其檢測靈敏度很高且容易進行放電量校準采用高頻檢測阻抗還可準確再現(xiàn)局部放電測試儀脈沖波形故在進行局部放電測試儀機理研究實驗室離線測試中占，主導地位但是由于其易受到外電路的電磁干擾使其靈敏度大大下降在現(xiàn)場環(huán)境中脈沖電流法。應(yīng)用并不很多無線電干擾電壓法中Rogowski線圈傳感器由于結(jié)構(gòu)簡單安裝方便檢測靈敏度高，頻帶寬等優(yōu)點在局部放電測試儀在線監(jiān)測中被廣泛采用現(xiàn)在大型電機變壓器GIS等設(shè)備的在線監(jiān)測中均有應(yīng)用超高頻檢測法是近年發(fā)展起來的新型局部放電檢測方法具有頻帶高靈敏度好抗電磁干擾能力強等顯著優(yōu)點被認為是有潛力的局部放電在線檢測方法但是超高頻檢測用微帶天線傳感器目前還在研究之中制造工藝要求甚高技術(shù)尚不成熟。

2.非電量檢測法局部放電測試儀發(fā)生時常伴有光聲熱等現(xiàn)象的發(fā)生對此局部放電測試儀檢測技術(shù)中也相應(yīng)出現(xiàn)了光測法聲測法紅外熱測法等非電量檢測方法較之電檢測法非電量檢測方法具有抗電磁干擾能力強與試樣電容無關(guān)等優(yōu)點。2.1聲測法介質(zhì)中發(fā)生局部放電測試儀時其瞬時釋放的能量將放電源周圍的介質(zhì)加熱使其蒸發(fā)效果就像一個小爆炸此時放電源如同一個聲源向外發(fā)出聲波由于放電持續(xù)時間很短所發(fā)射的聲波頻譜很寬可達到數(shù)MHz要有效檢測聲信號并將其轉(zhuǎn)化為電信號傳感器的選擇是關(guān)鍵常用的聲傳感器有用于氣體中的電容麥克風condensermicrophone電介體麥克風electretsmicrophone和動態(tài)麥克風dynamicmicrophone用于液體中類似于聲納的所謂水中聽診器hydrophone用于固體中的測震儀accelerometer和聲發(fā)射acousticemission傳感器在聲-電傳感器中工作頻帶和靈敏度是兩個為重要的指標若傳感器工作頻帶過窄脈沖相應(yīng)時間過長容易造成信號混疊故必須保證傳感器，一定的工作頻帶而在寬頻傳感器中要求傳感器，幾何尺寸必須小于聲波波長但是減小傳感器體積會導致傳感器測量面積減小進而降低測試靈敏度反之若為了增大靈敏度而增大傳感器幾何尺寸又會導致傳感器工作頻帶減小實際設(shè)計中往往結(jié)合現(xiàn)場條件折中考慮這兩方面的要求較之電測法聲測法在復雜設(shè)備放電源定位方面有獨到的優(yōu)點但是由于聲波在傳播途徑中衰減畸變嚴重聲測法基本不能反映放電量的大小[17]這使得實際中一般不獨立使用聲測法而將聲測法和電測法結(jié)合起來使用2.2光測法近年來采用光測法在局部放電測試儀特征及介質(zhì)老化，機理等方面的研究做了大量工作但是由于傳感器必須侵入設(shè)備且設(shè)備透光性能不好或者根本不能透光光測法只能測試表面放電和電暈放電故在現(xiàn)場中光測法基本上沒有直接應(yīng)用近年來隨著光纖技術(shù)的發(fā)展將光纖技術(shù)和聲測法相結(jié)合提出了聲-光測法該方法采用光纖傳感器局部放電測試儀產(chǎn)生的聲波壓迫使得光纖性質(zhì)改變導致光纖輸出信號改變從而可以測得放電國外在電力變壓器和GIS設(shè)備中均有相關(guān)應(yīng)用[18]BlackBurn等人將光纖傳感器伸入到變壓器內(nèi)部測量局放當變壓器內(nèi)部發(fā)生局部放電測試儀時超聲波在油中傳播這種機械壓力波擠壓光纖引起光纖變形導致光折射率和光纖長度的變化從而光波將被調(diào)制通過適當?shù)慕庹{(diào)器即可測量出超聲波可實現(xiàn)放電定位。2.3化學檢測法當電力設(shè)備絕緣中發(fā)生局部放電測試儀時，各種絕緣材料會發(fā)生分解破壞產(chǎn)生新的生成物通過檢測生成物的組成和濃度可以判斷局部放電測試儀的狀態(tài)?；瘜W檢測方法一般檢測氣體液體絕緣介質(zhì)已在GIS變壓器等設(shè)備上有相關(guān)應(yīng)用。在GIS中局部放電測試儀會使SF6氣體分解主要生成SOF2和SO2F2。用氣體傳感器檢測這兩種氣體的含量即可檢測是否有局部放電測試儀產(chǎn)生。在電力變壓器中油色譜分析DGA方法是一種簡單經(jīng)濟有效的在線監(jiān)測方法它通過色譜柱氣體傳感器分離檢測出變壓器油中各種可溶性氣體的含量并由此判斷變壓器絕緣狀況。在大型氣冷發(fā)電機中也有應(yīng)用化學檢測法對流通冷卻氣體進行采樣檢測進而判斷絕緣狀態(tài)的例子但是至今為止化學檢測法仍只能定性檢測是否有局部放電測試儀產(chǎn)生基本不能反映放電的性質(zhì)強度和位置，在眾多非電量檢測中超聲測法和化學檢測法，受到人們普遍關(guān)注超聲測法能夠有效地定位放電源化學檢測法在氣體液體絕緣介質(zhì)中應(yīng)用廣泛但非電量檢測法較之電量檢測法靈敏度不高且很難或者不能對放電性質(zhì)放電強度進行判斷故常和電檢測法結(jié)合應(yīng)用作為電檢測法的輔助檢測手段。局部放電測試儀的測量原理·局放儀運用的原理是脈沖電流法原理，即產(chǎn)生一次局部放電測試儀時，試品Cx兩端產(chǎn)生一個瞬時電壓變化Δu，此時若經(jīng)過電Ck耦合到一檢測阻抗Zd上，回路就會產(chǎn)生一脈沖電流I，將脈沖電流經(jīng)檢測阻抗產(chǎn)生的脈沖電壓信息，予以檢測、放大和顯示等處理，就可以測定局部放電測試儀的一些基本參量（主要是放電量q）。在這里需要指出的是，試品內(nèi)部實際的局部放電測試儀量是無法測量的，因為試品內(nèi)部的局部放電測試儀脈沖的傳輸路徑和方向是極其復雜的，因此我們只有通過對比法來檢測試品的視在放電電荷，即在測試之前先在試品兩端注入一定的電量，調(diào)節(jié)放大倍數(shù)來建立標尺，然后將在實際電壓下收到的試品內(nèi)部的局部放電測試儀脈沖和標尺進行對比，以此來得到試品的視在放電電荷。局部放電測試儀的表征參數(shù)·局部放電測試儀是比較復雜的物理現(xiàn)象，必須通過多種表征參數(shù)才能全面的描繪其狀態(tài)，同時局部放電測試儀對絕緣破壞的機理也是很復雜的，也需要通過不同的參數(shù)來評定它對絕緣的損害，目前我們只關(guān)心兩個基本參數(shù)。1、視在放電電荷--在絕緣體中發(fā)生局部放電測試儀時，絕緣體上施加電壓的兩端出現(xiàn)的脈動電荷稱之為視在放電電荷，單位用皮庫（pc）表示，通常以穩(wěn)定出現(xiàn)的大視在放電電荷作為該試品的放電量。2、放電重復率--在測量時間內(nèi)每秒中出現(xiàn)的放電次數(shù)的平均值稱為放電重復率，單位為次/秒，放電重復率越高，對絕緣的損害越大。局部放電測試儀產(chǎn)生原因在電場作用下，絕緣系統(tǒng)中只有部分區(qū)域發(fā)生放電，但尚未擊穿，（即在施加電壓的導體之間沒有擊穿）。這種現(xiàn)象稱之為局部放電測試儀。局部放電測試儀可能發(fā)生在導體邊上，也可能發(fā)生在絕緣體的表面上和內(nèi)部，發(fā)生在表面的稱為表面局部放電測試儀。發(fā)生在內(nèi)部的稱為內(nèi)部局部放電測試儀。而對于被氣體包圍的導體附近發(fā)生的局部放電測試儀，稱之為電暈。由此總結(jié)一下局部放電測試儀的定義，指部分的橋接導體間絕緣的一種電氣放電，局部放電測試儀產(chǎn)生原因主要有以下幾種：1、電場不均勻。2、電介質(zhì)不均勻。3、制造過程的氣泡或雜質(zhì)。經(jīng)常發(fā)生放電的原因是絕緣體內(nèi)部或表面存在氣泡；其次是有些設(shè)備的運行過程中會發(fā)生熱脹冷縮,不同材料特別是導體與介質(zhì)的膨脹系數(shù)不同，也會逐漸出現(xiàn)裂縫；再有一些是在運行過程中有機高分子的老化，分解出各種揮發(fā)物，在高場強的作用下，電荷不斷地由導體進入介質(zhì)中，在注入點上就會使介質(zhì)氣化。