超聲波測厚儀/超聲波厚度檢測儀/超聲波厚度測定儀/涂層測厚儀
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產品描述鍍鎳測厚儀BZHQT-IC可測多層鎳的各層厚度及層間電位差,鍍鎳測厚儀BZHQT-IC可在普遍電腦上即時顯示電位差曲線,并自動對曲線進行分析
鍍鎳測厚儀BZHQT-IC可測多層鎳的各層厚度及層間電位差,鍍鎳測厚儀BZHQT-IC可在普遍電腦上即時顯示電位差曲線,并自動對曲線進行分析。所有的測量數據、電位差曲線及曲線的分析結果都會自動保存在數據庫內,隨時打印。
鍍鎳測厚儀BZHQT-IC-特點:
操作簡便,復現性好,可測量單層、復合層電鍍。具有內置微電腦芯片,經過微電腦芯片處理后 ,直觀顯示各層厚度及電位差。
鍍鎳測厚儀BZHQT-IC-技術參數:
量程:0.03微米~99微米,電位差:-100mV~+400mV
精度:厚度:±10% 電位差:±5%
重復性:<5%
標準測量面積:A橡皮墊圈 φ2.5mm,B橡皮墊圈 φ1.7mm
鍍鎳測厚儀BZHQT-IC-標準配置:
主機(含內置微型打印機) 、電解池、有機測量架1、有機測量架2、橡皮墊圈、標準樣板、打印紙及支架、試劑瓶等。 與普通電腦連接的接口、連接線、可安裝入普通電腦的全套測量用軟件
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