FMP40涂層測厚儀

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更新時間：2025-02-20 11:04:26瀏覽次數(shù)：45次

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品描述FMP40涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)

詳細介紹

產(chǎn)品描述

FMP40涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

FMP40涂層測厚儀-產(chǎn)品特點：

具有磁感應和渦流各自的校準和零位功能

連續(xù)測量功能，能得出穩(wěn)定的結果

大窗口液晶帶二行點陣對話顯示，操作更明確

公英制單位設置

上下限設置，一旦超限，有不同的蜂鳴聲提示音

具有數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能：平均值、值、最小值、標準偏差、測量次數(shù)

鍵盤鎖功能，防止誤校準

另購傳輸軟件和專用電纜可將儀器里的數(shù)據(jù)傳輸?shù)诫娔X的Excel界面，方便編輯和打印。

新款DUALSCOPE® FMP40作為FMP30-40系列的一部分，比標準版儀器具有更廣泛的可用性。

這些儀器集成了許多附加的功能，可達100個應用程式及相應的統(tǒng)計學和圖形評估。

將容差限輸入可校準應用程式后，生產(chǎn)過程可以進行統(tǒng)計地分析。常規(guī)模式可以轉換到矩陣模式，以便于進行多點相關聯(lián)的測試。.

技術參數(shù)

FMP40涂層測厚儀-技術參數(shù)：

	DUALSCOPEMP0R	DUALSCOPE^FMP20	DUALSCOPE^FMP40
非鐵金屬上的油漆、陽極氧化層、瓷漆或塑料涂層	可以	可以	可以
鋁上的陽極氧化層	可以	可以	可以
鋼或鐵上的儀器、瓷漆或塑料涂層	可以	可以	可以
鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層	可以	可以	可以
數(shù)據(jù)儲存	可以	.	可以
統(tǒng)計計算	.	可以	可以
打印口USB 接口	.	.	可以
無線傳輸	可以	.	.
可更換插入式智慧型探頭	.	可以	可以
集成恒壓探頭	可以	.	.
測量范圍（μm）	(0 ... 2000)	取決于探頭	取決于探頭
電源	電池	電池	交流電或電池
重量[g]	60	230	230
規(guī)格 (高 x 寬 x 深 mm)	(85 x 64 x 30)	160 x 80 x 30	160 x 80 x 30

FMP40涂層測厚儀-可配探頭：

FD10：兩用探頭磁感應和渦流兩用

測量范圍：磁性：0-1300 μm，渦流，0-800 μm

FGA1.3：磁感應探頭：常用于高精度、高靈敏度、薄涂鍍層測量

測量范圍： 0 ～ 1 500 μm
測量精度： 0.25 μm （0－50 μm）
0.5 ％（50－1 000 μm）
< 2.5 ％（1 000－1 500 μm）
最小可測直徑： Φ 2 mm （誤差 < 10 ％）；Φ 14 mm 以上即為測量精度
最小可測面積： Φ 2 mm （誤差 < 10 ％）；Φ 8 mm 以上即為測量精度
可測基材： 0.2 mm （誤差 < 10 ％）

FGAB1.3：磁感應探頭：常規(guī)測量、高精度、高讀數(shù)穩(wěn)定性

測量范圍： 0 ～ 2 000 μm
測量精度： 0.5 μm （0－100 μm）
0.5 ％（100－1 000 μm）
< 3 ％（1 000－2 000 μm）
最小可測直徑： Φ 2 mm （誤差 < 10 ％）；Φ 18 mm 以上即為測量精度
最小可測面積： Φ 2 mm （誤差 < 10 ％）；Φ 8 mm 以上即為測量精度
可測基材： 0.2 mm （誤差 < 10 ％）

FGABI 1.3－150：磁感應探頭：長臂探頭，最小測 Φ9mm 孔壁涂鍍層

測量范圍： 0 ～ 1 000 μm
測量精度： 0.5 μm （0－50 μm）
1 ％（50－1 000 μm）
最小可測直徑： Φ 2 mm （誤差 < 10 ％）；Φ 16 mm 以上即為測量精度
最小可測面積： Φ 2 mm （誤差 < 10 ％）；Φ 8 mm 以上即為測量精度
可測基材： 0.2 mm （誤差 < 10 ％）

FTA3.3H：渦流探頭

測量范圍： 0 ～ 1 200 μm
測量精度： 0.25μm（0－50μm）
0.5％（50－800μm）
< 2％（800－1 200μm)
最小可測直徑：Φ2 mm（誤差< 10％）；當 Φ50 mm 以上即為測量精度
最小可測面積：Φ2 mm（誤差< 10％）；當 Φ4 mm 以上即為測量精度
可測基材：0.09 mm（誤差< 10％）

FTA3.3：渦流探頭

測量范圍： 0 ～ 1 200 μm
測量精度： 0.5μm（0－100μm）
0.5％（100－800μm）
< 3％（800－1 200μm)
最小可測直徑：Φ2 mm（誤差< 10％）；當 Φ50 mm 以上即為測量精度
最小可測面積：Φ2 mm（誤差< 10％）；當 Φ4 mm 以上即為測量精度
可測基材：0.09 mm（誤差< 10％）

關鍵詞：測厚儀