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　　光模塊功能失效分為發(fā)射端失效和接收端失效，分析具體原因，zui常出現(xiàn)的問(wèn)題集中在以下幾個(gè)方面：
 

　　1.光口污染和損傷
 

　　由于光接口的污染和損傷引起光鏈路損耗變大，導(dǎo)致光鏈路不通。產(chǎn)生的原因有：
 

　　a、光模塊光口暴露在環(huán)境中，光口有灰塵進(jìn)入而污染；
 

　　b、使用的光纖連接器端面已經(jīng)污染，光模塊光口二次污染；
 

　　c、帶尾纖的光接頭端面使用不當(dāng)，端面劃傷等；
 

　　d、使用劣質(zhì)的光纖連接器。
 

　　2.ESD 損傷
 

　　ESD 是ElectroStatic Discharge 縮寫(xiě)即"靜電放電"，是一個(gè)上升時(shí)間可以小于1ns(10 億分之一秒)甚至幾百ps(1ps=10000 億分之一秒)的非常快的過(guò)程，ESD 可以產(chǎn)生幾十Kv/m甚至更大的強(qiáng)電磁脈沖。靜電會(huì)吸附灰塵，改變線(xiàn)路間的阻抗，影響產(chǎn)品的功能與壽命；ESD的瞬間電場(chǎng)產(chǎn)生的熱，使元件受傷，短 期仍能工作但壽命受到影響；甚至破壞元件的絕緣或?qū)w，使元件不能工作(*破壞)。ESD 是不可避免，除了提高電子元器件的抗ESD 能力，重要的是正確使用，引起ESD 損傷的因素有：
 

　　a、環(huán)境干燥，易產(chǎn)生ESD；
 

　　b、不正常的操作，如：非熱插拔光模塊帶電操作；不做靜電防護(hù)直接用手接觸光模塊靜電敏感的管腳；運(yùn)輸和存放過(guò)程中沒(méi)有防靜電包裝；
 

　　c、設(shè)備沒(méi)有接地或者接地不良。
 

　　光收發(fā)一體光模塊應(yīng)用注意點(diǎn)
 

　　1. 光口問(wèn)題
 

　　光鏈路上各處的損耗衰減都關(guān)系到傳輸?shù)男阅埽虼艘螅?br /> 

　　a、 選擇符合入網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)的光纖連接器；
 

　　b、 光纖連接器要有封帽，不使用時(shí)蓋上封帽，避免光纖連接器污染而二次污染光模塊光口；封帽不使用時(shí)應(yīng)放在防塵干凈處保存；
 

　　c、 光纖連接器插入是水平對(duì)準(zhǔn)光口，避免端面和套筒劃傷；
 

　　d、 光模塊光口避免長(zhǎng)時(shí)間暴露，不使用時(shí)加蓋光口塞；光口塞不使用時(shí)儲(chǔ)存在防塵干凈處；
 

　　e、 光纖連接器的端面保持清潔，避免劃傷；
 

　　2. ESD 損傷
 

　　ESD 是自然界不可避免的現(xiàn)象，預(yù)防ESD 從防止電荷積聚和讓電荷快速放電兩方面著手：
 

　　a、保持環(huán)境的濕度30～75%RH；
 

　　b、對(duì)光模塊操作時(shí)做靜電防護(hù)工作(如：帶靜電環(huán)或?qū)⑹滞ㄟ^(guò)預(yù)先接觸機(jī)殼等手段釋放靜電)接觸光模塊殼體，避免接觸光模塊PIN 腳；
 

　　c、使用的相關(guān)設(shè)備采用并聯(lián)接地的公共接地點(diǎn)接地，保證接地路徑zui短，接地回路zui小，不能串聯(lián)接地，應(yīng)避免采用外接電纜連接接地回路的設(shè)計(jì)方式；
 

　　d、包裝和周轉(zhuǎn)的時(shí)候，采用防靜電包裝和防靜電周轉(zhuǎn)箱/車(chē)；
 

　　e、禁止對(duì)非熱插拔的設(shè)備，進(jìn)行帶電插拔的操作；
 

　　f、避免用萬(wàn)用表表筆直接檢測(cè)靜電敏感的管腳；
 

　　簡(jiǎn)易光模塊失效判斷步驟
 

　　1.測(cè)試光功率是否在指標(biāo)要求范圍之內(nèi)，如果出現(xiàn)無(wú)光或者光功率小的現(xiàn)象。
 

　　處理方法：
 

　　a、檢查光功率選擇的波長(zhǎng)和測(cè)量單位(dBm)
 

　　b、清潔光纖連接器端面，光模塊光口，
 

　　c、檢查光纖連接器端面是否發(fā)黑和劃傷，光纖連接器是否存在折斷，更換光纖連接器做互換性試驗(yàn)
 

　　d、檢查光纖連接器是否存在小的彎折。
 

　　e、熱插拔光模塊可以重新插拔測(cè)試。
 

　　f、同一端口更換光模塊或者同一光模塊更換端口測(cè)試。
 

　　2.光功率正常但是鏈路無(wú)法通，檢查link 燈。