電路板高低溫老化測(cè)試箱/PCB電路板溫度老化箱
儀器用途:電路板老化試驗(yàn)箱廣泛用于電路板、PCB電路板、線路板、鋁基板、LED顯示屏、LED燈具、LED光源、LED照明燈、儀器儀表材料、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、塑膠、半導(dǎo)體、各種電子元器件及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),考核其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

溫度范圍:Z: 0~150℃ T:-20~150℃ F:-40~150℃ S:-70~150℃
解 析 度:0.1℃, 1%, P.I.D 控制
溫度均勻度:±2℃ (空載時(shí))
溫度波動(dòng)度:±0.5℃ (空載時(shí))
升溫時(shí)間:1.0℃~3.0℃/min
降溫時(shí)間:0.7℃~1.0℃/min
技術(shù)參數(shù):規(guī)格(單位:mmW×H×D):
型號(hào):KW-GD-80 內(nèi)形尺寸:400×500×400 外箱尺寸:970×1360×970
型號(hào):KW-GD-150 內(nèi)形尺寸:500×600×500 外箱尺寸:1070×1460×1070
型號(hào):KW-GD-225 內(nèi)形尺寸:500×750×600 外箱尺寸:1070×1610×1170
型號(hào):KW-GD-408 內(nèi)形尺寸:600×850×800 外箱尺寸:1170×1710×1280
型號(hào):KW-GD-800 內(nèi)形尺寸:1000×1000×800 外箱尺寸:1550×1850×1300
型號(hào):KW-GD-1000 內(nèi)形尺寸:1000×1000×1000 外箱尺寸:1550×1850×1500
容積:80L 150L 225L 408L 800L 1000L
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):電路板老化試驗(yàn)箱依國(guó)標(biāo)GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A:低溫GB/T2423.1-2001試驗(yàn)B:高溫(部分)產(chǎn)品符合GJB150.3、GB/T10586-2006及GB/T10592-1989設(shè)計(jì)制造,GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。
控制系統(tǒng):電路板老化試驗(yàn)箱采用*KW-890真彩7寸控制器、功能強(qiáng)大,畫(huà)面保護(hù)器功能,程式運(yùn)行時(shí)可以設(shè)定操作條件,一個(gè)段次的運(yùn)行時(shí)間(530小時(shí)59分),每段可以設(shè)定待機(jī)開(kāi)關(guān),定值z(mì)ui大999999小時(shí),還具有程序修正、清除、預(yù)約、啟動(dòng)、停電、記憶、按鍵鎖定等功能。性能可靠,操作簡(jiǎn)便,控制技術(shù)達(dá)到目前*水平、性價(jià)比明顯優(yōu)于同類進(jìn)口設(shè)備。
如需了解更多更好全面關(guān)于電路板老化試驗(yàn)箱資訊請(qǐng)致電到科文試驗(yàn)設(shè)備公司,將有專業(yè)人士為您講解。