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江蘇德大自動化設備有限公司
雷達物位計MD30K系列
MD30K-D導波
● 原 理
導波雷達發出的高頻微波脈沖沿著探測組件(鋼纜或鋼棒)傳播,遇到被測介質,由于介電常數突變,引起反射,一部分脈沖能量被反射回來。發射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質的距離成正比。
應 用:控制測量級,液體及固體測量,
復雜過程條件
Z大量程:纜 30m/棒 6m
測量精度:±15m
雷達物位計MD30K系列
MD30K-D導波雷達物位計
● 原 理
導波雷達發出的高頻微波脈沖沿著探測組件(鋼纜或鋼棒)傳播,遇到被測介質,由于介電常數突變,引起反射,一部分脈沖能量被反射回來。發射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質的距離成正比。
應 用:控制測量級,液體及固體測量,
復雜過程條件
zui大量程:纜 30m/棒 6m
測量精度:±15mm
過程連接:法蘭、螺紋
控測組件材料:不銹鋼316L
過程溫度:-40…150℃
信號輸出:兩線制/四線制 4…20mA/HART
測量范圍:6m(標配,可定制)
● 特 點
由于采用了*的微處理器和*的EchoDiscovery回波處理技術,導波可以應用于各種復雜工況。
多種過程連接方式及探測組件的型式,使得導波適于各種復雜工況及應用場合。如:高溫、高壓及小介電常數介質等。
采用脈沖工作方式,導波發射功率極低,可安裝于各種金屬、非金屬容器內,對人體及環境均無傷害。
MD30K-M脈沖型
● 原 理
天線發射極窄的微波脈沖,這個脈沖以光速在空間傳播,碰到被測介質表面,其部分能量被反射回來,被同一天線接收。發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度*,發射脈沖與接收脈沖的時間間隔很小(納秒量級)很難確認。采用一種特殊的相關解調技術,可以準確識別發射脈沖與接收脈沖的時間間隔,從而進一步計算出天線到被測介質表面的距離。
應 用:控制測量級,存儲容器或過
程容器,過程條件復雜
zui大量程:30m
測量精度:±10mm
過程連接:法蘭316L
天線材料:不銹鋼316L/PTFE
過程溫度:-40…200℃
頻率范圍:26GHZ
信號輸出:兩線制/四線制4…20mA/HART
● 特 點
由于采用了*的微處理器和*的EchoDiscovery回波處理技術,導波可以應用于各種復雜工況。其中采用了高達26G的發射頻率,相對于6.3G的雷達具有更小發射角,更高精度。
“虛假回波學習"功能使得儀表在多個虛假回波的工況下,可正確地確認真實回波,獲得準確的測量結果。
多種過程連接方式及探測組件的型式,使得導波適于各種復雜工況及應用場合。如:高溫、高壓及小介電常數介質等。
采用脈沖工作方式,導波發射功率極低,可安裝于各種金屬、非金屬容器內,對人體及環境均無傷害。
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