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Jandel可變高度測試臺(Automatic)Multiheight

公司簡介：

英國Jandel公司成立于1967年，專注于四探針探頭和測試儀器生產(chǎn)，其精準的測試結果以及精密的設計贏得國際同行的高度認可和推崇。目前各種不同形狀、規(guī)格的四探針探頭已成為眾多國際一線四探針測試儀生產(chǎn)廠家的核心部件。

 

產(chǎn)品類別：

jandel可變高度測試臺

jandel多位晶片測試臺

jandel四探針測試儀專用圓柱形探頭

jandel微定位測試臺

jandel多用型測試臺

主要型號：

(Automatic)Multiheight

產(chǎn)品介紹：

l 應用廣泛，可測量薄膜、晶片以及錠

l Z軸可變高度

l Automatic Multiheight(AFPP)配有壓力傳感器，探針與樣品接觸時自動停止功能，避免超壓保護樣品和探針

優(yōu)勢特點：

l 樣品：尺寸直徑不超過250mm的樣品（可選擇直徑為300mm的樣品，無需額外費用）

l 樣品：厚度可測量高達250mm的樣品（如有要求，可測量更高的樣品）

l 微動開關防止探針與樣本不接觸時電流流動

l 手動控制探針接觸和拆卸的簡單杠桿操作

l 簡單設置單線連接探針支架和測量電子設備

l 安裝孔可選樣品臺

jandel可變高度測試臺主要應用：

半導體電阻率測量