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深圳市歐野電子有限公司
CT-3規格參數:
1.測量范圍:0.006~300 um
2.Z小分辯率:0.001 um
3.測量面積:3.4、2.4、1.7∮mm
日本電測 電解式膜厚計 CT-3 庫侖測厚儀
規格參數:
1.測量范圍:0.006~300 um
2.zui小分辯率:0.001 um
3.測量面積:3.4、2.4、1.7∮mm
4.速度:125、12.5、1.25nm/sec
5.測量單位:um、nm、二種
6.靈敏度調節:5段可調
7.體尺寸:200(W)*150(H)*150(D)mm
8.體重量:1.8kg
9.差可校正范圍:±15%
10.電壓:AC110V(220V)/50,60Hz
11.本機精度:1%
儀器特點:
可測金屬鍍層:金、銀、化學鎳、銦、硬鉻、裝飾鉻、鋅、 鎘、錫、 鉛、銅、鈷、鎳、鐵、多重鎳、黑鉻
可測合金鍍層:錫鋅合金、錫鉛合金、銅鋅合金、鎳鈷合金、鎳鐵合金
產品優點:
1、各種鍍層(多層、合金)的精密測量;
2、除平板形外,還可以通過提供的圖表測量圓形、棒形(細線)等各種形狀
3、可高精度測量其它方式不易測量的三層以上的鍍層;
4、可制作非破壞式膜厚儀的標準板;
5、可檢查非破壞式膜厚儀的測量精度;
6、產品,精度提高,簡單易懂,操作及保養容易。
7、標準板校正值的計算和設定可自動進行;
8、三檔測量速度, 可以準確測量極薄鍍層厚度
9、可分離測量銅(合金)上的錫(合金)鍍層間的擴散(合金)層;
10、*的測量臺(電測公司)是利用條形彈簧方式,使操作方便簡單
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