ITO薄膜是一種n型半導體材料，具有高的導電率、高的可見光透過率、高的機械硬度和良好的化學穩定性。它是液晶顯示器（LCD）、等離子顯示器（PDP）、電致發光顯示器（EL/OLED）、觸摸屏（TouchPanel）、太陽能電池以及其他電子儀表的透明電極zui常用的薄膜材料。ITO薄膜是一種很薄的金屬薄膜，在透明導電薄膜方面得到普遍的應用，具有廣闊的前景。但薄膜的厚度是否均勻直接關系到企業的生產成本控制，所以對ITO薄膜厚度的高精度測量，是企業必須重視的檢測項目之一。
Labthink蘭光研發生產的CHY-C2A ITO薄膜厚度檢測儀 ，采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
ITO薄膜厚度檢測儀技術指標：
負荷量程：0～2mm（常規）；0～6mm；12mm（可選）
分辨率：0.1μm
測量速度：10 次/min（可調）
測量壓力：17.5±1KPa（薄膜）；50±1KPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
電源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重：32kg
儀器配置：
標準配置：主機、標準量塊一件
選購件：專業軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼、微型打印機
