單晶硅片厚度檢測儀 CHY-C2A型號

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更新時間：2024-07-02 18:31:40瀏覽次數：216次

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產品簡介

單晶硅片厚度檢測儀 CHY-C2A型號采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量

詳細介紹

單晶硅片厚度檢測儀 CHY-C2A型號采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

執行標準：
ISO 4593-1993 塑料薄膜和薄板機械掃描測定厚度
ISO 534-2011 紙和紙板--厚度、密度和比容積的測定
ISO 3034-2011 瓦楞紙板--單張厚度的測定
GB/T 6672-2001 塑料薄膜和薄片厚度測定機械測量法
GB/T 451.3-2002 紙和紙板厚度的測定
GB/T 6547-1998 瓦楞紙板厚度的測定法
ASTM D374-1999 固體電工絕緣材料厚度的試驗方法
ASTM D1777-1996(2007) 紡織材料厚度試驗方法
JIS K6250-1997 硫化橡膠及熱可塑性橡膠的物理試驗方法通則
JIS K6783-1994 農業用乙烯乙酸乙烯共聚物薄膜
JIS Z1702-1994 包裝用聚乙烯薄膜
TAPPI T411、BS 3983、BS 4817

單晶硅片厚度檢測儀 CHY-C2A型號技術指標：
負荷量程：0 ～ 2 mm（常規）
0 ～ 6 mm；12 mm （可選）
分辨率：0.1 μm
測量速度：10 次/min （可調）
測量壓力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）
接觸面積：50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
電源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重：32kg

儀器配置：
標準配置：主機、標準量塊一件
選購件：專業軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼、微型打印機

關鍵詞：測厚儀，薄膜厚度儀，薄膜測厚儀，紙張厚度測定儀，厚度測量儀，厚度計，薄膜厚度測量儀，薄膜厚度檢測儀，薄膜厚度測定儀，薄片測厚儀，硅片測厚儀，GB 6672，紙張測厚儀

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