高低溫老化儀/-70度試驗箱的主要技術指標：
型號 ： AP-GD-80 AP-GD-150 AP-GD-225 AP-GD-408 AP-GD-608 AP-GD-800 AP-GD-1000
內部尺寸：40x50x40 50x60x50 50x75x60 60x85x80 80x95x80 100x100x80 100x100x100 HxD (cm)
1 、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～+120℃
2 、溫度波動度：±0.5℃
3 、溫度偏差：≤2℃
4 、升降溫速率：0.6～1.2℃/min
高低溫老化儀/-70度試驗箱安全保護裝置：
1 、電源超載、控制回路過載、短路保護
2 、接地保護、電機過載保護
3 、超溫保護
4 、為保護設備,所有報警均會自動切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。
使用現(xiàn)場條件：
1．溫度：15℃~35℃
2．相對濕度：不大于85%RH
3．周圍無強烈振動、無強烈電磁場影響
4．周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質
5．無陽光直接照射或其它熱源直接輻射
6．周圍無強烈氣流，當周圍空氣需要強制流時，氣流不應直接吹到箱體上。
7．試驗箱應放置平穩(wěn)，保持水平。
8．試驗箱的四周應留有一定的距離，方便維修操作。
9．安裝場地通風良好
10．良好接地
用途：
該設備主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。該試驗設備主要用于對產品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
該設備是按照下列標準或其結合為依據而制造：
GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術條件
GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2424.1-89 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則
GB/T5170.2-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法
結構特征：
1、內壁：進口SUS304不銹鋼
2、外殼：冷軋板靜電噴涂
3、保溫材料：硬質聚氨脂發(fā)泡或超細玻璃棉，具有保溫性有好等特點
4、密封：進口硅膠密封條
5、控溫濕方式：BTHC平衡調溫調濕
6、溫濕度調節(jié)儀：進口韓國智能數顯PID整定調節(jié)儀，0.2級精度
7、加熱：不銹鋼翅片空氣加熱
8、冷機：*全封閉壓縮機，機械式單級制冷或復迭低溫回路系統(tǒng)
9、設備供水凈化器
10、上電自動進水
11、對流系統(tǒng)：空調電機定制鋁風葉
12、設備運行定時器
13、箱門*設大面積觀察窗，并配有觀察燈
14、全自動控制與安全保護協(xié)調系統(tǒng)。
