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手持式礦石分析儀，檢測鉭鈮礦等，光譜儀廠家

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產品型號900

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更新時間：2018-05-15 16:03:46瀏覽次數：457次

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蘇州浪聲科學儀器有限公司

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產品簡介

應用領域
對高品位、精選礦石精確的品位評定，提供礦石采集、收購價值依據

礦渣、尾礦中殘存的礦石元素分析，再次判定其價值
在礦石開采過程，搪孔過程，研磨、濃縮和熔煉過程中進行品檢，確定品位，對濾熔池、存儲塘和鋼槽溶液進行分析
快速普查超大范圍的礦區，有效地測定地帶模式，繪制礦山圖、實時勘察
現場快速追蹤礦化異常，有效地尋找“熱點"地帶，圈定礦體邊界
對銑頭、精礦和礦渣快速、精確的分析，以建立高效開

詳細介紹

產品介紹
對于礦產勘探開采行業來說，礦業公司進行決策時很多時候要依賴于已有的礦體模型、公司經驗與技術。但要充分挖掘礦山價值、制定的開采決策，僅靠這些是遠遠不夠的。

對礦山價值的充分利用，有一個關鍵前提：即需要即時獲取可靠的地球化學數據，以快速描繪出礦體邊界。此外，精確的礦山圖繪制及礦石品位控制也需要對礦樣的元素含量作可靠的定量分析。
將礦樣送至遠離現場的實驗室檢測，不但費時費力、成本昂貴，對于偏遠的地方，這樣做也是不切實際的。現在，有了百學手持式礦石分析儀，您的礦物元素分析工作就可以變得格外簡單。對于任何規模的礦業公司來說，浪聲科學儀器Beethor系列礦石分析儀都可以為您提供一款既節省成本又非常快速的現場XRF分析儀器，它重量輕、精度高，性能可靠，可廣泛應用于勘探開采過程中各階段的礦樣成分分析。
主要特點
真正實現了現場快速，準確的檢測，直接顯示元素的ppm含量或者百分比

在現有分析儀中體積zui小，速度zui快，精度更高

可以檢測樣品：礦石、巖石、礦渣、碎片、土壤、泥土、泥漿等固體和液體物質
不規則或者很小樣品的智能探測，及時是很小樣件也可測試辨認
只需直接接觸待測物表面，即可現場確定礦石等級、元素種類及礦石中各元素的含量
儀器在陽光直射的高溫高日照量的情況下也能保持高性能等特點，這得益于儀器設計中充分考慮低功耗及X射線管高溫的及時排放
可承受惡劣的工作環境。耐磨防刮花全金屬外殼密封，使儀器可在雨天、塵土飛揚的礦山環境中正常工作
特別考慮到工作人員*使用性，儀器設計已確保工作人員安全性為*要素，關鍵部位全金屬封裝，使的儀器輻射量做到zui低水準
可分析從從鎂礦（Mg）到钚礦（Pu）之間的所有83種自然礦石，包括重金屬礦石Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd等
分析元素
礦產全元素模式可分析從鎂( Mg )到鈾( U )之間的43種基本元素，包括Mg, Al, S i , Cl , P , S , K , Ca , Sc, Ti , V , Cr , Mn , Fe , Co , Ni , Cu , Zn , Ga , Ge, As , Se , Rb , Sr , Y, Zr , Nb , Mo , Pd , Ag ,Cd ,In, Sn , Sb , Ba , Hf , Ta , Re , W , Au , Hg , Pb , Bi等
產品特點
礦山繪圖、開采及礦石品位控制需要大量礦樣的精確化學成分數據。浪聲X3G系列手持式礦石分析儀堅固、耐用，能夠在苛刻的礦產作業環境中，出色地完成大量樣品的化學元素分析工作，如果您正在尋找一款能夠現場實時出具分析結果，同時又不犧牲精度與性能的礦石分析產品時，那么浪聲科學儀器Beethor系列手持式XRF系列分析儀是您明智的選擇。原礦/廢棄物，精礦，尾礦

應用領域
對高品位、精選礦石精確的品位評定，提供礦石采集、收購價值依據

礦渣、尾礦中殘存的礦石元素分析，再次判定其價值
在礦石開采過程，搪孔過程，研磨、濃縮和熔煉過程中進行品檢，確定品位，對濾熔池、存儲塘和鋼槽溶液進行分析
快速普查超大范圍的礦區，有效地測定地帶模式，繪制礦山圖、實時勘察
現場快速追蹤礦化異常，有效地尋找“熱點”地帶，圈定礦體邊界
對銑頭、精礦和礦渣快速、精確的分析，以建立高效開采和富集的過程
通過對輸送料、精礦、礦渣進行現場分析以確定/跟蹤提煉或者濃縮過程的有效性。礦場描繪以及品位控制
通過實時就地分析多個樣本，實現對開采計劃進行指導，有效地管理挖掘、爆破工作
在現場確定土壤、沉積物或者鉆孔樣本的地質成分，以有效控制勘探成本
能夠對礦石、礦渣、土壤、沉積物以及其他類似的樣品進行快速的金屬元素含量分析。無論是進行原地檢測還是非原地檢測，功能強大的計算軟件能夠自動消除由于不同樣品的材質差異所造成的偏差，從而使操作者僅需將儀器探測頭直接接近樣品便可進行檢測，而無需其他任何數據輸入或者進行再次校準。根據對檢測精度的不同要求，測試時間僅需數秒到數分鐘。此外，能夠快速分析礦石樣本、精礦、礦渣的金屬元素成分。允許用戶通過運用特殊校正因子來進一步提高檢測精度。礦山原場地所采集的礦石樣品可以直接測試，但這會影響到元素的品位值，因為元素在礦石中的含量分布不均勻，儀器所測試的點不能代表整個礦石，理想的分析效果要求我們對礦石樣品進行烘干，研磨（160目以上），攪拌均勻后再測試，對于含量幾個PPM級的元素，測試時間長些，相應的精度也會跟著提高。
檢測報告
輸出截圖

技術參數

外形尺寸

236×97×300mm(L×W×H)
工作溫度

-20℃～+50℃
工作濕度

≤90%
激發源

新型一體化微型X射線管，50KV/200uA， Ag靶材
探測器

高性能Si-Pin/SDD探測器，Peltier制冷，分辨率<160eV
處理器

CPU:1GHz,8GB 系統內存/4GB用戶內存, zui大擴展內存為64GB
顯示屏

固定角度一體化彩色背光LCD觸摸屏，屏幕尺寸:4.2",分辨率：800×480
檢出限

zui低檢出限達ppm級
檢測時間

2-40秒
檢測范圍

硅(Si)到鈾(U)之間的所有元素均可檢測
檢測對象