1)絕緣子絕緣電阻小于300MΩ，而大于240MΩ可判定為低值絕緣子。
(2)絕緣子絕緣電阻小于240MΩ可判定為零值絕緣子。
復合絕緣一般不采用本方法測試絕緣電阻。
3.導致盤型懸式絕緣子劣化的原因
(1)溫度的影響，溫度對絕緣電阻影響很大，絕緣電阻隨溫度上升而減小。原因是溫度升高，絕緣介質的極化加劇，電導增加使絕緣電阻下降，變化的原因與溫度變化程度和絕緣材料的性質、結構等有關。
(2)濕度的影響，濕度對表面泄漏電流的影響較大，原因是絕緣表面吸附潮氣，形成水膜，會使絕緣電阻明顯下降。
(3)絕緣子機械過載造成的劣化。
(4)瓷件吸濕性劣化。
(5)瓷件內外應力重疊性劣化。
(6)瓷絕緣子熱膨脹造成的劣化。
(7)鋼帽澆裝水泥飽和膨脹性劣化。
(8)鋼帽澆裝水泥凍結膨脹性劣化。
(9)鋼帽、鋼腳電腐蝕性劣化。
(10)絕緣子過電壓造成的劣化。
(11)絕緣子內部缺陷造成的劣化。
測量絕緣子電阻的注意：濕度較大時應暫停測量。
4.測量方法
對于單元件的絕緣子，只能在停電的情況下測量其絕緣電阻，相關規程中規定，采用2500V及以上的兆歐表。目前使用較多的是2500V和5000V兆歐表，也有電壓更高的專門儀器。但實際上，在1*104MΩ以內，精度相同的2500V和5000V兆歐表，在相同的濕度下測量的絕緣電阻基本相同。在所測絕緣電阻大于1*104MΩ時，2500V兆歐表無法讀出準確的絕緣電阻值，只能按∞記數。而5000兆歐表則可取的zui大絕緣電阻可達2*105MΩ。
