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Palas U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀-重新定義納米測量

閱讀:7發布時間:2025-1-22

Palas U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀-重新定義納米測量

已被閱讀30次2022-03-18

隨著人類活動對環境影響的加劇,顆粒物群體逐漸龐大,威脅著生態環境和人們的健康。不管是常見的灰蒙蒙的天空,還是不時出現的霧霾天氣,其本質正是由無處不在的顆粒污染物造成的。無論是室內還是室外,空氣質量的評估、治理和改善工作需要可靠的儀器加持。由Palas 研發的U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀,集納米測量、操作靈活便捷、監測結果精準等諸多優點于一身,適用于多種研究場景,可以有效測量和評估空氣污染程度。為監測污染物排放和空氣質量,研究人員選擇了U-SMPS在港口和機場進行超細顆粒物監測。

研究人員使用Palas U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀在港口進行了輪船顆粒物的排放監測。得益于U-SMPS直觀的界面和集成數據記錄器的獨立設備,可通過TeamViewer,Windows等進行遠程控制。大大的方便了研究人員的監測進程,從輪船開出的時間開始監測,輔以數據展示了U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀在顆粒物總濃度納米顆粒物監測方面的突出優勢。

 

研究人員還在機場進行了超細顆粒物監測,監測的位置在機場航站樓距離飛機起降跑道400m的位置,在一般監控的范圍(可見空中交通)監測了平均顆粒物粒徑和顆粒物總濃度。U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀監測到的顆粒物活動范圍可追溯。

在兩組應用案例中,Palas U-SMPS體現了高尺寸分辨率(120通道/十倍粒徑)的優勢,通過使用系統軟件PDAnalyze,一鍵自動保存數據無需外部數據記錄系統和無需額外同步設備時間,使顆粒物水平的變化清晰可見。同時可以自動合并粒徑分布圖,得到直觀的數據結果。

顆粒物監測專家Palas的納米設備擁有業內的測量技術,市面上單純的光學監測只能測量到大于120nm以上的顆粒,而U-SMPS組合尺寸分布為4nm至40,000nm。Palas U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀可靠的監測結果可與校準中心(TROPOS,萊比錫)媲美。儀器結合了準確可靠的粒徑分析和計數功能,可提供靈活監測設備。Palas智能解決方案和緊密的客戶關系為傳統粒徑分析市場打開大門。

Palas U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀

產品優勢

粒徑分布從4nm到1,200nm

連續和快速掃描測量原理

高分辨率,最多256通道(128通道/十倍粒徑)

用于高達108 顆粒/cm3的濃度

可連接其他制造商的DMA和納米粒子計數器

圖形顯示測量值

直觀操作,使用7英寸觸摸屏和GUI

集成數據記錄儀

支持多種接口和遠程訪問

低維護

功能可靠

減少您的運營費用

應用領域

過濾測試

氣溶膠研究

環境與氣候研究

吸入實驗

室內和工作場所測量


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