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廣州市統富機電設備有限公司
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1. X線源:油浸式小型微小焦點X線管. 50KV管電壓,可變管電壓。
2. 照射方式：由上而下垂直照射方式。
3. 檢出器：比例計數管。
4. 濾波器：采用 Co 和 Ni 雙濾波器及數位式濾波器,可單一或同時使用。
5. 準直儀：Collimator 采用五種孔徑一體成型式,可自動切換使用。
1. X線源:油浸式小型微小焦點X線管. 50KV管電壓,可變管電壓。
2. 照射方式：由上而下垂直照射方式。
3. 檢出器：比例計數管。
4. 濾波器：采用 Co 和 Ni 雙濾波器及數位式濾波器,可單一或同時使用。
5. 準直儀：Collimator 采用五種孔徑一體成型式,可自動切換使用。
0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0 ψ㎜.
(選購) 0.05 ×0.5, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5 ψ㎜.
(選購) 0.05, 0.1, 0.2, 0.3, 0.5 ψ㎜.
6. 樣品觀測系統：彩色CCD及高畫質顯示屏。
7. 多能譜分析器：使用256高頻分析器,光譜自動分析,在執行測量及運算時,非常快速。
貳. 計算機操作部:
8. 計算機系統：(僅供參考)
w 聯想 兼容中文個人計算機.
w CPU：Intel Celeron 2GHz或以上.
w RAM：2GB或以上.
w DVD-ROM ×1.
w RS232串行通信接口
w Hard Disk：160 GB或以上.
w 19" 高畫質顯示屏.
9. 打印機：日本EPSON彩色噴墨式打印機。
10. 本機型(EX-731系列)之操作系統采中文視窗(Windows XP)對話式操作,非常簡便。
參. 特性說明:
11. 測量項目：
w 單層膜厚測定.
w 2層膜厚測定.
w 3層膜厚測定.
w 合金膜厚成份比同時測定.
w 化學鎳膜厚測定.
w 壓鑄鋅底材上鍍銅,鎳二層膜厚同時測定.
w 元素的光譜峰值測定分析.
12. 測量材質：原子序22(Ti) ~ 82(Pb)為激發法測量。 原子序22以下為吸收法測量。
13. 測量范圍：原子序22 ~ 24 , 約 0.2 ~ 20 um. 原子序25 ~ 40 , 約 0.1 ~ 30 um. 原子序41 ~ 51 , 約 0.2 ~ 70 um. 原子序52 ~ 82 , 約 0.05~ 10 um.
14.測量機能：
w 自動測定.
w 同一點重復測定機能
w 輸出形式設定.
w 自動測定條件測定.
w 能譜測定.
w 2點間等距離測定.
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