當研發工程團隊成功開發新的電子產品時，在批量生產之前應進行大量測試。盡管HBM和IEC 61000-4-2是使用更廣泛的標準，但近年來一些品牌制造商要求進行TLP（傳輸線脈沖）測試。即使測試方法不同，所有這些測試標準都旨在確保電子產品的可靠性。在出廠前通過更嚴格的ESD測試標準測試的電子產品可以在更廣泛的應用中使用。無論是在潮濕的國家還是在容易導致靜電積聚的干燥寒冷的地區使用，環境因素都不會影響消費者的使用體驗。這也是增加消費者對該品牌的信心和信任的有效途徑。
HBM測試用于模擬人體釋放到半導體組件的放電。當前，大多數集成電路在出廠前已經通過了HBM測試。系統組裝完成后，將執行系統級ESD測試-IEC 61000-4-2。根據IEC 61000-4-2的RC（電阻/電容）模塊和靜電放電為150 pF / 330Ω，而每個HBM為100 pF / 1500Ω。這說明系統級別的IEC 61000-4-2標準具有更大的電容和更低的放電電阻，計算后的測試電流約為HBM測試的5倍。這就是為什么即使IC在出廠時就已經進行了HBM測試，它仍需要額外的ESD保護組件（TVS）來幫助系統在組裝后通過IEC 61000-4-2標準。
傳輸線脈沖（TLP）是一種用于靜電放電（ESD）領域的測量技術，用于表征在短脈沖寬度和快速上升時間（類似于ESD事件）的壓力下器件的性能屬性。 TLP適用于IEC 61000-4-2定義的系統級ESD和ANSI / ESDA / JEDECJS-001-2010定義的集成電路級HBM。TLP的主要用途之一是獲取電流與電壓（IV）數據，其中每個數據點均來自反映ESD波形特征的脈沖：上升時間為納秒，脈沖寬度為100 ns。TLP中使用的100 ns脈沖長度和高達40 A的電流水平與ESD事件中出現的脈沖長度和電流非常匹配。圖1比較了IEC 61000-4-2和人體模型(HBM)在8 kV下的電流波形和TLP在8 A和16 A下的脈沖。很明顯，時間尺度和電流水平的相似性使TLP成為表征電子元件ESD特性的理想工具。本文將描述基本的TLP測量系統，解釋如何使用TLP系統獲得I-V曲線，然后展示一些TLP系統如何用于表征ESD保護產品的例子，如TVS器件。
