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行業(yè)產(chǎn)品

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北京航天縱橫檢測(cè)儀器有限公司


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介質(zhì)損耗測(cè)試儀航天縱橫

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產(chǎn)品型號(hào)ZJD-C型

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

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更新時(shí)間:2019-08-09 11:47:30瀏覽次數(shù):672次

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產(chǎn)品簡介

介質(zhì)損耗測(cè)試儀航天縱橫是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室測(cè)試各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量的高精度測(cè)試儀器。儀器為一體化結(jié)構(gòu),內(nèi)置介損測(cè)試電橋,可變頻調(diào)壓電源,升壓變壓器和SF6 高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器。測(cè)試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生,經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測(cè)試。

詳細(xì)介紹

介電常數(shù)測(cè)試儀符合標(biāo)準(zhǔn):
ASTM D150-11實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數(shù))的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法;
GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的*方法;
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法;
GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 第4部分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗

機(jī)臺(tái)型號(hào):ZJD-B/ZJD-A/ZJD-C 產(chǎn)品名稱:介質(zhì)損耗測(cè)試儀航天縱橫

 

一、符合標(biāo)準(zhǔn):

ASTM D150-11實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數(shù))的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法;

GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的*方法;

GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法;

GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 第4部分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法;

 

二、主機(jī)及夾具參數(shù):

項(xiàng)目/型號(hào)

ZJD-B

ZJD-A

ZJD-C

信號(hào)源

DDS數(shù)字合成信號(hào)

頻率范圍

10KHZ-70MHZ

10KHZ-110MHZ

100KHZ-160MHZ

信號(hào)源頻率精度

3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)

Q值測(cè)量范圍

1~1000

Q值量程分檔

30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔

電感測(cè)量范圍

1nH~8.4H

1nH~140mH

電容直接測(cè)量范圍

1pF~2.5uF

1pF~25nF

主電容調(diào)節(jié)范圍

30~540pF

 17~240pF

準(zhǔn)確度

150pF以下±1pF;150pF以上±1%

合格指示預(yù)置功能范圍

5~1000

環(huán)境溫度

0℃~+40℃

消耗功率

約25W

電源

220V±22V,50Hz±2.5Hz

極片尺寸

38mm/50mm(二選一)

極片間距可調(diào)范圍

≥15mm

夾具插頭間距

25mm±0.01mm

夾具損耗正切值

≤4×10-4 (1MHz)

測(cè)微桿分辨率

0.001mm

測(cè)試極片

材料測(cè)量直徑Φ38mm/50mm,厚度可調(diào) ≥ 15mm

 

三、配置:

序號(hào)

標(biāo)準(zhǔn)配置

單位/數(shù)量

1

主機(jī)

一臺(tái)

2

S916夾具

一套

3

電感組

九只

4

電源線

一根

選配:USB模塊、液體杯(測(cè)量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm)

 

四、工作原理:

介質(zhì)損耗測(cè)試儀航天縱橫在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí),電介質(zhì)中的電壓和電流間存在相角差Ψ,Ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測(cè)量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路(Cn)和一被試回路(Cx)。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成,被試回路由被試品和測(cè)量線路組成。測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位等,再由單片機(jī)運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,通過矢量運(yùn)算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。

儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施,保證在外電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量。

五、我司經(jīng)營產(chǎn)品包括:

ZJC系類電壓擊穿試驗(yàn)儀

ATI系類體積表面電阻率測(cè)試儀

ZJD系類介電常數(shù)測(cè)試儀

LDQ-2漏電起痕試驗(yàn)儀

JF系類氧指數(shù)測(cè)定儀

CZF系類水平垂直燃燒測(cè)定儀

WDW系類電子*試驗(yàn)機(jī)

XRW系列熱變形維卡溫度測(cè)定儀

XNR系類熔體流動(dòng)速率測(cè)定儀

ZJJ系類沖擊試驗(yàn)機(jī)

MDJ系類固體/液體等材料的密度測(cè)試儀

WZY系類*材料制樣機(jī)

我司產(chǎn)品在全國各省市、地區(qū)均有用戶、其中包括:質(zhì)檢單位、科研院所、大中院校、*、電科院、材料學(xué)院、*、*、航空航天、納米研究、能源、電子半導(dǎo)體、涂料、造紙、石油化工、汽車研究、大型工廠、生產(chǎn)企業(yè)實(shí)驗(yàn)室等。

產(chǎn)品范圍包括:電學(xué)、力學(xué)、燃燒、制樣、建材、橡膠塑料薄膜等。

 

 

1、范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在15Hz?300MHz的頻率范圍內(nèi)測(cè)量電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)的方法,并由此計(jì)算某些數(shù)值,如損耗指數(shù)。本標(biāo)準(zhǔn)中所敘述的某些方法,也能用于其他頻率下測(cè)量。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)量液體、易熔材料以及固體材料。測(cè)試結(jié)果與某些物理?xiàng)l件有關(guān),例如頻率、溫度、濕度,在特殊情況下也與電場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。

有時(shí)在超過1000V的電壓下試驗(yàn),則會(huì)引起一些與電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)無關(guān)的效應(yīng),對(duì)此不予論述。

2、規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件,其新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

IEC60247:1978  液體絕緣材料相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量

3、術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

3.1

相對(duì)電容率relative permittivity

ε r

電容器的電極之間及電極周圍的空間全部充以絕緣材料時(shí),其電容Cx與同樣電極構(gòu)形的真空電容Co之比;

 ……………………………(1)

式中;

εr——相對(duì)電容率;

Cx——充有絕緣材料時(shí)電容器的電極電容;

Co——真空中電容器的電極電容。

在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下,不含二氧化碳的干燥空氣的相對(duì)電容率ε r等于1.00053,因此,用這種電極構(gòu)形在空氣中的電容Cx來代替Co測(cè)量相對(duì)電容率εr時(shí),也有足夠的精確度。

在一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)中,絕緣材料的電容率是在該系統(tǒng)中絕緣材料的相對(duì)電容率εr與真空電氣常數(shù)εr的乘積。

在SI制中,電容率用法/米(F/m)表示。而且,在SI單位中,電氣常數(shù)εr,為:……………………………(2)

在本標(biāo)準(zhǔn)中,用皮法和厘米來計(jì)算電容,真空電氣常數(shù)為:ε0=0.088 54 pF/cm

3.2

介質(zhì)損耗角dielectric loss angle

δ

由絕緣材料作為介質(zhì)的電容器上所施加的電壓與由此而產(chǎn)生的電流之間的相位差的余角。

3.3

介質(zhì)損耗因數(shù)1) dielectric dissipation factor

tanδ

損耗角δ的正切。

3.4

[介質(zhì)]損耗指數(shù) [dielectric] loss index

ε''r

該材料的損耗因數(shù)tanδ與相對(duì)電容率εr的乘積。

3.5

復(fù)相對(duì)電容率 complex relative permittivity

εr

由相對(duì)電容率和損耗指數(shù)結(jié)合而得到的:

式中:

εr——復(fù)相對(duì)電容率;

ε''r——損耗指數(shù);

ε'r、εr——相對(duì)電容率;

tanδ——介質(zhì)損耗因數(shù)。

注:有損耗的電容器在任何給定的頻率下能用電容Cs和電阻Rs的串聯(lián)電路表示,或用電容CP和電阻RP(或電導(dǎo)CP)并聯(lián)電路表示。

并聯(lián)等值電路                            串聯(lián)等值電路

  

式中:

Cs——串聯(lián)電容;

Rs——串聯(lián)電阻;

1)有些國家用“損耗角正切”來表示“介質(zhì)損耗因數(shù)”,因?yàn)閾p耗的測(cè)量結(jié)果是用損耗角的正切來報(bào)告的。

CP——并聯(lián)電容;

RP——并聯(lián)電阻。

雖然以并聯(lián)電路表示一個(gè)具有介質(zhì)損耗的絕緣材料通常是合適的,但在單一頻率下,有時(shí)也需要以電容Cs和電阻Rs的串聯(lián)電路來表示。

串聯(lián)元件與并聯(lián)元件之間,成立下列關(guān)系:

式(9)、(10)、(11)中:Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式(7)、(8)。

無論串聯(lián)表示法還是并聯(lián)表示法,其介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ是相等的。

假如測(cè)量電路依據(jù)串聯(lián)元件來產(chǎn)生結(jié)果,且tanδ太大而在式(9)中不能被忽略,則在計(jì)算電容率前必須先計(jì)算并聯(lián)電容。

本標(biāo)準(zhǔn)中的計(jì)算和測(cè)量是根據(jù)電流(ω=πf)正弦波形作出的。

4、電氣絕緣材料的性能和用途

4.1電介質(zhì)的用途

電介質(zhì)一般被用在兩個(gè)不同的方面:

用作電氣回路元件的支撐,并且使元件對(duì)地絕緣及元件之間相互絕緣;

用作電容器介質(zhì)。

4.2影響介電性能的因素

下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強(qiáng)度對(duì)介電性能的影響。

4.2.1頻率

因?yàn)橹挥猩贁?shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的εr和tanδ幾乎是恒定的,且被用作工程電介質(zhì)材料,然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測(cè)量其介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率。

電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導(dǎo)而產(chǎn)生,重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導(dǎo)致的界面極化所引起的。

4.2.2溫度

損耗指數(shù)在一個(gè)頻率下可以出現(xiàn)一個(gè)zui大值,這個(gè)頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負(fù)的,這取決于在測(cè)量溫度下的介質(zhì)損耗指數(shù)zui大值位置。

4.2.3濕度

極化的程度隨水分的吸收量或電介質(zhì)材料表面水膜的形成而增加,其結(jié)果使電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電導(dǎo)率增大。因此試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)對(duì)環(huán)境濕度進(jìn)行控制是*的。

注:濕度的顯著影響常常發(fā)生在1MHz以下及微波頻率范圍內(nèi)。

4.2.4電場(chǎng)強(qiáng)度

存在界面極化時(shí),自由離子的數(shù)目隨電場(chǎng)強(qiáng)度增大而增加,其損耗指數(shù)zui大值的大小和位置也隨此而變。

在較高的頻率下,只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電,電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場(chǎng)強(qiáng)度無關(guān)。

5、試樣和電極

5.1固體絕緣材料

5.1.1試樣的幾何形狀

測(cè)定材料的電容率和介質(zhì)損耗因數(shù),采用板狀試樣,也可采用管狀試樣。


在測(cè)定電容率需要較高精度時(shí),zui大的誤差來自試樣尺寸的誤差,尤其是試樣厚度的誤差,因此厚度應(yīng)足夠大,以滿足測(cè)量所需要的精確度。厚度的選取決定于試樣的制備方法和各點(diǎn)間厚度的變化。對(duì)1%的精確度來講,1.5mm的厚度就足夠了,但是對(duì)于更高精確度,是采用較厚的試樣,例如6mm?12mm。測(cè)量厚度必須使測(cè)量點(diǎn)有規(guī)則地分布在整個(gè)試樣表面上,且厚度均勻度在±1%內(nèi)。如果材料的密度是已知的,則可用稱量法測(cè)定厚度。選取試樣的面積時(shí)應(yīng)能提供滿足精度要求的試樣電容。測(cè)量10pF的電容時(shí),使用有良好屏蔽保護(hù)的儀器。由于現(xiàn)有儀器的極限分辨能力約1pF,因此試樣應(yīng)薄些,直徑為10cm或更大些。

需要測(cè)低損耗因數(shù)值時(shí),很重要的一點(diǎn)是導(dǎo)線串聯(lián)電阻引人的損耗要盡可能地小,即被測(cè)電容和該電阻的乘積要盡可能小。同樣,被測(cè)電容對(duì)總電容的比值要盡可能地大。*點(diǎn)表示導(dǎo)線電阻要盡可能低及試樣電容要小,第二點(diǎn)表示接有試樣橋臂的總電容要盡可能小,且試樣電容要大。因此試樣電容取值為20pF,在測(cè)量回路中,與試樣并聯(lián)的電容不應(yīng)大于約5pF,

5.1.2電極系統(tǒng)

5.1.2.1加到試樣上的電極

電極可選用5.1.3中任意一種。如果不用保護(hù)環(huán),而且試樣上下的兩個(gè)電極難以對(duì)齊時(shí),其中一個(gè)電極應(yīng)比另一個(gè)電*些。已經(jīng)加有電極的試樣應(yīng)放置在兩個(gè)金屬電極之間,這兩個(gè)金屬電極要比試樣上的電極稍小些。對(duì)于平板形和圓柱形這兩種不同電極結(jié)構(gòu)的電容計(jì)算公式以及邊緣電容近似計(jì)算的經(jīng)驗(yàn)公式由表1給出。

對(duì)于介質(zhì)損耗因數(shù)的測(cè)量,這種類型的電極在高頻下不能滿足要求,除非試樣的表面和金屬板都非常平整。圖1所示的電極系統(tǒng)也要求試樣厚度均勻。.

5.1.2.2試樣上不加電極

表面電導(dǎo)率很低的試樣可以不加電極而將試樣插入電極系統(tǒng)中測(cè)量,在這個(gè)電極系統(tǒng)中,試樣的一側(cè)或兩側(cè)有一個(gè)充滿空氣或液體的間隙。

平板電極或圓柱形電極結(jié)構(gòu)的電容計(jì)算公式由表3給出。

下面兩種型式的電極裝置特別合適.

5.1.2.2.1空氣填充測(cè)微計(jì)電極

當(dāng)試樣插入和不插人時(shí),電容都能調(diào)節(jié)到同一個(gè)值,不需進(jìn)行測(cè)量系統(tǒng)的電氣校正就能測(cè)定電容率。電極系統(tǒng)中可包括保護(hù)電極。

5.1.2.2.2流體排出法

在電容率近似等于試樣的電容率,而介質(zhì)損耗因數(shù)可以忽略的一種液體內(nèi)進(jìn)行測(cè)量,這種測(cè)量與試樣厚度測(cè)量的精度關(guān)系不大。當(dāng)相繼采用兩種流體時(shí),試樣厚度和電極系統(tǒng)的尺寸可以從計(jì)算公式中消去。

試樣為與試驗(yàn)池電極直徑相同的圓片,或?qū)y(cè)微計(jì)電極來說,試樣可以比電極小到足以使邊緣效應(yīng)忽略不計(jì)。在測(cè)微計(jì)電極中,為了忽略邊緣效應(yīng),試樣直徑約比測(cè)微計(jì)電極直徑小兩倍的試樣厚度。

5.1.2.3邊緣效應(yīng)

為了避免邊緣效應(yīng)引起電容率的測(cè)量誤差,電極系統(tǒng)可加上保護(hù)電極。保護(hù)電極的寬度應(yīng)至少為兩倍的試樣厚度,保護(hù)電極和主電極之間的間隙應(yīng)比試樣厚度小。假如不能用保護(hù)環(huán),通常需對(duì)邊緣電容進(jìn)行修正,表1給出了近似計(jì)算公式。這些公式是經(jīng)驗(yàn)公式,只適用于規(guī)定的幾種特定的試樣形狀。

此外,在一個(gè)合適的頻率和溫度下,邊緣電容可采用有保護(hù)環(huán)和無保護(hù)環(huán)的(比較)測(cè)量來獲得,用所得到的邊緣電容修正其他頻率和溫度下的電容也可滿足精度要求。

5.1.3構(gòu)成電極的材料

5.1.3.1金屬箔電極

用極少量的硅脂或其他合適的低損耗粘合劑將金屬箔貼在試樣上。金屬箔可以是純錫或鉛,也可以是這些金屬的合金,其厚度zui大為100μm,也可使用厚度小于10μm的鋁箔。但是,鋁箔在較高溫度


下易形成一層電絕緣的氧化膜,這層氧化膜會(huì)影響測(cè)量結(jié)果,此時(shí)可使用金箔。

5.1.3.2燒熔金屬電極

燒熔金屬電極適用于玻璃、云母和陶瓷等材料,銀是普遍使用的,但是在高溫或高濕下,采用金。

5.1.3.3噴鍍金屬電極

鋅或銅電極可以噴鍍?cè)谠嚇由希鼈兡苤苯釉诖植诘谋砻嫔铣赡ぁ_@種電極還能噴在布上,因?yàn)樗鼈儾淮┩阜浅P〉目籽邸?/span>

5.1.3.4陰極蒸發(fā)或高真空蒸發(fā)金屬電極

假如處理結(jié)果既不改變也不破壞絕緣材料的性能,而且材料承受高真空時(shí)也不過度逸出氣體,則本方法是可以采用的。這一類電極的邊緣應(yīng)界限分明。

5.1.3.5汞電極和其他液體金屬電極

把試樣夾在兩塊互相配合好的凹模之間,凹模中充有液體金屬,該液體金屬必須是純凈的。汞電極不能用于高溫,即使在室溫下用時(shí),也應(yīng)采取措施,這是因?yàn)樗恼魵馐怯卸镜摹?/span>

伍德合金和其他低熔點(diǎn)合金能代替汞。但是這些合金通常含有鎘,鎘象汞一樣,也是毒性元素。這些合金只有在良好抽風(fēng)的房間或在抽風(fēng)柜中才能用于100℃以上,且操作人員應(yīng)知道可能產(chǎn)生的健康危害。

 

表1  真空電容的計(jì)算和邊緣校正

 

試樣的相對(duì)電容率:

其中:

C'x——電極之間被測(cè)的電容;

In——自然對(duì)數(shù);

Ig——常用對(duì)數(shù)。

表2 試樣電容的計(jì)算——接觸式測(cè)微計(jì)電極

試樣電容

符號(hào)定義’

1.并聯(lián)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電容器來替代試樣電容

CP——試樣的并聯(lián)電容

△C——取去試樣后,為恢復(fù)平衡時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)電容器的電容增量

Cr——在距離為r時(shí),測(cè)微計(jì)電極的標(biāo)定電容

Cs——取去試樣后,恢復(fù)平衡,測(cè)微計(jì)電極間距為s時(shí)的標(biāo)定電容Cor,Coh——測(cè)微計(jì)電極之間試樣所占據(jù)的,間距分別為rh的空氣電容。可用表1中的公式1來計(jì)算r——試樣與所加電極的厚度

h——試樣厚度

相對(duì)電容率: 

CP=△C+Cor

試樣直徑至少比測(cè)微計(jì)電極的直徑小2r。在計(jì)算電容率時(shí)必須采用試樣的真實(shí)厚度h和面積A。

2.取去試樣后減少測(cè)微計(jì)電極間的距離來替代試樣電容

CP=Cs-Cr+Cor

試樣直徑至少比測(cè)微計(jì)電極的直徑小2r。在計(jì)算電容率時(shí)必須采用試樣的真實(shí)厚度h和面積A。

3.并聯(lián)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電容器來替代試樣電容

當(dāng)試樣與電極的直徑同樣大小時(shí),僅存在一個(gè)微小的誤差(因電極邊緣電場(chǎng)畸變引起0.2%?0.5%的誤差),因而可以避免空氣電容的兩次計(jì)算。

CP=△C+Coh

試樣直徑等于測(cè)微計(jì)電極直徑,施于試樣上的電極的厚度為零。


表3電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的計(jì)算——不接觸電極


 

1——測(cè)微計(jì)頭;

6——微調(diào)電容器;

2——連接可調(diào)電極(B)的金屬波紋管;

7——接檢測(cè)器;

3——放試樣的空間(試樣電容器M1

8——接到電路上;

4——固定電極(A);

9——可調(diào)電極(B)。

5——測(cè)微計(jì)頭;

 

圖1  用于固體介質(zhì)測(cè)量的測(cè)微計(jì)——電容器裝置

單位為毫米

 

1——內(nèi)電極;

1——把柄;

2——外電極;

5——棚硅酸鹽或石英墊圈;

3——保護(hù)環(huán);

6——硼硅酸鹽或石英墊圈。

圖2  液體測(cè)量的三電極試驗(yàn)池示例

 

注滿試驗(yàn)池所需的液體量大約15mL

1——溫度計(jì)插孔;

2——絕緣子;

3——過剩液體溢流的兩個(gè)出口。

圖3  測(cè)量液體的兩電極試驗(yàn)池示例

 

1——溫度計(jì)插孔;

2——1mm厚的金屬板;

3——石英玻璃;

4——1mm或2mm的間隙;

5——溫度計(jì)插孔


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