JD智能回路電阻測(cè)試儀

儀器來源

電力系統(tǒng)中普遍采用常規(guī)的雙臂直流電橋測(cè)量變壓器線圈的直流電阻、高壓斷路器的接觸電阻，而這類電橋的測(cè)試電流僅為m*，難以發(fā)現(xiàn)變壓器線圈導(dǎo)電回路導(dǎo)體截面積減少的缺陷。在測(cè)量高壓開關(guān)導(dǎo)電回路的接觸電阻時(shí)，由于受到油膜和動(dòng)靜觸點(diǎn)間氧化層的影響，測(cè)量的電阻值偏大若干倍，掩蓋了真實(shí)的接觸電阻值。根據(jù)《DL / T 845.4一2004中華人民共和國電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)電阻測(cè)量裝置通用技術(shù)條件》

回路電阻測(cè)試儀對(duì)斷路器、隔離開關(guān)接觸電阻的測(cè)量電流作出不小于100A的規(guī)定，以確保測(cè)量的準(zhǔn)確度。

回路電阻測(cè)試儀是根據(jù)中華人民共和國電力執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)DL/T845.4-2004，采用高頻開關(guān)電源技術(shù)和數(shù)字電路技術(shù)相結(jié)合設(shè)計(jì)而成。它適用于開關(guān)控制設(shè)備回路電阻的測(cè)量。其測(cè)試電流采用國家標(biāo)準(zhǔn)的直流100A。可在電流100A的情況下直接測(cè)得回路電阻，并用數(shù)字顯示出來。

JD智能回路電阻測(cè)試儀

工作原理

電力系統(tǒng)許多大電流電氣設(shè)備在預(yù)防性試驗(yàn)和交接試驗(yàn)中需要準(zhǔn)確測(cè)量回路的電阻值。斷路器是電力系統(tǒng)重要的電氣設(shè)備，依照標(biāo)準(zhǔn)《JJG1052-2009回路電阻檢定規(guī)程》、國標(biāo)GB763、GB50150和電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL/T596對(duì)斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量均作了規(guī)定:應(yīng)采用直流壓降法測(cè)量，電流不小于100A。

斷路器導(dǎo)電回路 的電阻主要取決于斷路器的動(dòng)、靜觸頭間的接觸電阻。接觸電阻的測(cè)量 有許多種方法。日本學(xué)者Isao Minowa提出用超導(dǎo)量子器件測(cè)量接觸電阻，H.Archi提出利用電解槽法測(cè)量接觸電阻，波蘭學(xué)者 Jerzy Kaczarek提出用三次諧波法測(cè)量接觸電阻，這些方法一般是在實(shí)驗(yàn)室條件下進(jìn)行電接觸研究所采用的方法。工程中，通常采用四端子法來測(cè)量 實(shí)際觸點(diǎn)的接觸電阻。

以前，通常采用直流雙臂 電橋測(cè)量斷路器的接觸電阻。但是，當(dāng)使用雙臂電橋進(jìn)行斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量時(shí)，由于雙臂電橋測(cè)量回路通過的是微弱的電流，難以消除電阻較大的氧化膜， 測(cè)出的電阻示值偏大，但氧化膜在大的電流下很容易被擊穿，不妨礙正常電流通過。因此，測(cè)試采用直流壓降法測(cè)試時(shí)，電流不得太小。