J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統使用Clarity復合系統分析軟件，分析人員可應用單變量或多變量校準模型進行準確的定量分析。通過參考標準濃度值直接賦值給LIBS或ICP-MS強度，單變量校準曲線可輕松生成。該軟件附帶一個常用的固態標樣，用于單變量校準，Axiom LA軟件是ICP-MS數據管理和分析工具，這些工具對于獲得精確的定量結果和精確的統計非常重要，同時，時間分辨ICP-MS信號也可以非常流暢，并且可以輕而易舉地獲得TRSD（時間相對標準偏差）統計學數值。

元素的快速深度剖析：
在目標點的重復激光采樣過程中，Clarity LIBS分析軟件中的DepthTracker?能瞬時監測所選元素的LIBS發射峰值強度，揭示不同樣品深度處元素組成的變化。DepthTracker?對于確定樣品表面的污染物、執行涂層分析、了解薄膜結構以及識別位于其下方的夾雜物是一項非常有價值的功能。

設備特點：
1、緊湊型微集氣管設計，以消除脫氣和記憶效應；
2、高硬度Q開關，短脈沖Nd:YAG激光器波長低至213nm；
3、可將LIBS強度和時間分辨的ICP-MS信號轉換為選定元素的非常詳細的2D/3D圖；
4、質譜或兩個光譜對各種樣品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地質礦物等)進行分類或鑒別的理想方法；
5、多功能取樣方法：全分析、微區&夾雜物分析，深度分析和元素成像；
6、雙路高精度數字質量流量控制器和電子控制閥門，硬件部件的全面控制與測量自動化；
7、應用光譜Flex樣品室帶有可互換鑲嵌模塊，以優化運輸氣體流量和顆粒沖刷性能。

J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統能夠同時測定主要元素、微量元素以及同位素，快速繪制元素圖，J200采用了一種自動調高傳感器，該傳感器的設計考慮到了樣品表面的形態變化。這一特性使得J200能夠保持精確的激光聚焦，不論高度差異如何，在所有采樣點上提供相同的激光通量，并在所有采樣點上實現一致的激光剝蝕。這一創新的傳感器特性是由應用光譜公司的科學團隊開發的一項技術，其本人從事激光與材料相互作用機理及相關應用研究達30余年，對于光譜儀器、成像系統、計算及電子器件具有豐富的經驗。