KARL DEUTSCH測厚儀LEPTOSKOP 2042特點參數

KARL DEUTSCH自1949公司成立以來，一直致力于研發和生產無損檢測儀器和設備，是個傳統的家族企業。產品包括便攜式儀器，臺式儀器， 探頭和滲透裂紋檢測劑。典型的檢測任務是超聲波焊縫檢測，鑄件缺陷檢驗，用磁粉或滲透方法對鍛件裂紋檢測，軌道交通和航空安全系統中的部件檢測，以及壁厚和涂層厚度測量。

KARL DEUTSCH涂層測厚儀(帶探頭)LEPTOSKOP 2042：

大型圖形顯示48毫米×24毫米，帶照明

校準選項：

出廠前校準，立刻準備測量

校準未知涂層

零點校準

未涂覆基材之一，多箔校準

涂層材料校準

校準數據可以單獨存儲在單獨的校準文件，并可以重新裝載

可選的顯示模式，以獲得適應測量任務

輸入和監控限制

Windows下讀數存儲，方便文件管理

可用的PC軟件EasyExport和ICOM

多達999個讀數統計評估

min值，max值，平均值，讀數，標準差，監測極限

局部厚度和平均涂層厚度（DINEN ISO2808）

技術參數：

串行接口：將數據傳輸到RS232或USB瑗緣ww王王

電源：通過電池，USB或電源裝置

測量范圍：0 -20000微米（取決于探頭）

測量速率：高達每秒2讀數

存儲：max9999，讀數高達140文件

測量不確定度（校準后）

涂層厚度<100微米：讀數+/-1微米的1％

涂層厚度>100微米：讀數+/-1微米的1..3％

涂層厚度>1000微米：讀數+/-10微米的3..5％

涂層厚度> 10000微米：讀數+/- 100微米的5％

型號：

2442.100探頭

2442.110探頭

2442.120探頭

2442.130探頭

2442.140探頭

2442.200雙極探頭

2442.300微探探頭

2442.310微型探頭

2442.320微型探頭

2442.330微型探頭

2442.340微型探頭

2442.350微型探頭

2442.410微型探頭

2632.002微型探頭

KARL DEUTSCH測厚儀LEPTOSKOP 2042特點參數