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GE通用電氣IS200DSPXH1D
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設備良率
設備良率是指設備在一定時間內(nèi)生產(chǎn)的產(chǎn)品總數(shù)量減去因設備原因產(chǎn)生的不良品數(shù)量后與生產(chǎn)的總數(shù)量的比率。以此作為評價設備性能的指標,作為設備驗收的條件之一。
設備良率計算公式:設備良率=(總生產(chǎn)數(shù)量-因設備因素產(chǎn)生的不良品數(shù)量)/總生產(chǎn)數(shù)量。這
里設備良率概念既不是指制造設備本身的良品率也不等同于產(chǎn)線生產(chǎn)良率。在與客戶討論良率時一定要溝通清楚。因為影響生產(chǎn)良率的因素有多種,包括來料、設備、作業(yè)方法及工藝制程、產(chǎn)品結構等等。在設備驗證生產(chǎn)階段,分析產(chǎn)品不良原因時要將不良品的類型和原因分開統(tǒng)計,以便找到產(chǎn)生不良的根本原因。如果是設備原因產(chǎn)生的問題,就要從設備上進行改善,包括重新調(diào)整,提高精度,調(diào)整參數(shù)等。
良率指標一般是客戶根據(jù)以往生產(chǎn)的經(jīng)驗和生產(chǎn)的需要提出的,既是一個制程能力的指標,也直接影響制程的實際產(chǎn)能,往往作為生產(chǎn)部門的重要考核指標。設備供應商根據(jù)需求,在方案評估階段對產(chǎn)品的制程進行分析,找出可能造成產(chǎn)品品不良的風險,選擇合理的方案。設備造成產(chǎn)品不良有表面劃傷、變形、損壞、臟污、尺寸超標、位置不準確、形狀不正確、貼合不牢、鎖附不到位、結果與標的不符等等,有些屬于二次不良,主要是夾持、搬運、定位、壓緊等原因造成,應盡量避免。
有些屬于功能性不良,主要是設計方案缺陷(實現(xiàn)的方法問題)、結構的不合理、設備的精度和穩(wěn)定性差等原因造成。在方案評估階段要綜合考慮來料不良的處理、不良品的處置。對于來料不良可以通過自動檢測對來料不良進行篩選,防止不良品進入到設備,或?qū)Ξa(chǎn)品的來料做出明確的要求。
Cpk---過程能力指數(shù)
表示過程能力滿足技術標準(例如規(guī)格、公差)的程度,一般記為CPK。是現(xiàn)代企業(yè)用于表示制程能力的指標。也有用戶用于對新引進設備進行評估和驗收的指標。制程能力是過程性能的允許大變化范圍與過程的正常偏差的比值。制程能力研究在於確認這些特性符合規(guī)格的程度,以保證制程成品不符規(guī)格的不良率在要求的水準之上,作為制程持續(xù)改善的依據(jù)。當產(chǎn)品通過了GageR&R的測試之后,開始Cpk值的測試。Cpk值越大表示品質(zhì)越佳。1.67>Cpk≥1.33的時,狀態(tài)是良,表示制程能力良好,。CPK=1.33時,表示該制程生產(chǎn)的產(chǎn)品的理論合格率為99.379%。計算公式:CPK=Min((X-LSL/3σ),(USL-X/3σ))