詳細(xì)介紹
10kV抗干擾自動介質(zhì)損耗測試儀
1 特點:
◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在100kHz~100MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。
◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制TFT彩屏菜單式顯示多參數(shù):介電常數(shù)(ε),介質(zhì)損耗角(tanδ),Q值,測試頻率,調(diào)諧狀態(tài)和調(diào)諧電容值等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~70MHz(WY2852A/D),50kHz~160MHz(WY2853A/D)測試信號。獨立信號源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
技術(shù)指標(biāo)
1、工作電源:AC 220V±10%、50Hz±1Hz
2、高壓輸出:0.5kV~10kV 每隔0.1kV
精 度:2%
zui大電流:200mA
容 量:2000VA
3、自激電源:AC 0V~50V/15A
45Hz/55Hz、55Hz/65Hz、47.5Hz/52.5Hz
4、分 辨 率:tgδ:0.001%
Cx:0.001pF
5、精 度:△tgδ:±(讀數(shù)*1.0%+0.040%)
△Cx:±(讀數(shù)*1.0%+1.00PF)
6、測量范圍:tgδ:無限制
Cx:15pF<Cx<300nF
10kV Cx<60 nF
5kV Cx<150nF
1kV Cx<300nF
CVT測試:Cx<300nF
7、CVT變比范圍:10~10000
8、CVT變比精度:0.1%
9、CVT變比分辨率:0.01
10、抗干擾原理:變頻法
11、存儲器大小:200組、支持U盤存儲數(shù)據(jù)
12、使用環(huán)境:-15℃~40℃、RH<80%
10kV抗干擾自動介質(zhì)損耗測試儀