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深圳市宏盛儀器科技有限公司
產品簡介:品牌:羅德與施瓦茨 ;型號:FSW ;加工定制:是 ;類型:便攜式 ;顯示方式:LED ;重量:20 kg;適用范圍:適用與生產,研發,測量 品牌羅德與施瓦茨型號FSW所在地廣東深圳寶安區
全新高性能R&S®FSW信號與頻譜分析儀滿足客戶高性能需求,提供低相位噪聲,寬分析帶寬和直觀性操作,使得測試工作快速簡單。
主要特點
• 頻率范圍覆蓋從2 Hz 至 8/13.6/26.5/43.5/50/67/85 GHz (加外部諧波混頻器可擴展至110GHz)
• 相位噪聲低至-137dBc/Hz@1GHz,10kHz頻偏
• WCDMA 鄰信道功率比測試-88dB動態范圍(噪聲消除功能打開)
• *高2GHz分析帶寬
• 8 GHz范圍內低至0.4dB總測量不確定度
• 高分辨率的12.1寸觸摸屏方便操作
• 支持多任務并行測量及顯示
特點 • 的相位噪聲 – 是雷達和通信應用振蕩器測試的理想工具 振蕩器,頻率合成器和發射機系統的研發人員將從R&S®FSW突出的相位噪聲測量動態范圍性能中獲益。在偏離載波中心頻率10kHz位置,R&S®FSW相位噪聲在1GHz中心頻率處可達到-137dBc(1Hz),而在10GHz中心頻率處可達到-128dBc(1Hz)。偏離載波中心頻率100kHz位置,相位噪聲在相同中心頻率處分別為-110dBc(1Hz)和-90dBc(1Hz). 在相位噪聲性能上R&S®FSW超越前一代分析儀多達10dB。 • 低顯示平均噪聲電平帶來出色的雜散測試動態范圍 顯示平均噪聲電平(DANL)在未使用預放大器條件下,2GHz頻率處低至-159dBm(1Hz)而25GHz頻率處低至-150dBm(1Hz)。R&S®FSW可在寬頻率范圍內提供快速而可靠的雜散測試。顯示平均噪聲電平可通過選擇使用噪聲消除功能而進一步改善13dB。用戶可確認之前隱藏在噪底之下的極小雜散信號從而有效地優化發射機系統。 R&S®FSW可選配可切換使用的高通濾波器(R&S®FSW-B13)進行*高頻率至1.5GHz的發射機系統諧波測試。與傳統的頻譜分析儀相比可獲得明顯的動態范圍改善。無需外部濾波器,可方便針對GSM, CDMA, WCDMA, LTE 和TETRA 系統進行測試系統的搭建。 • 高達500MHz解調帶寬 多載波或者寬帶應用的功率放大器為了提高效率而進行的線性化工作或者通信系統自身占用帶寬的增加,使得對于分析帶寬的需求持續增加,面對挑戰,R&S®FSW提供高達500MHz的分析帶寬滿足測試需求。 • 高無雜散動態范圍 > 100 dBc 當分析I/Q數據時,除ADC分辨率之外,無雜散動態范圍(SFDR)也是重要指標。由于無雜散動態范圍(SFDR)> 100 dBc,因此R&S®FSW在線性化放大器或測量EVM時擁有的測量精度。 • 優化用戶向導進行有效操作 ° 平面化的菜單架構 多視窗功能 • 快速識別和分析發射雜散信號 為了識別發射機或振蕩器的雜散發射,通常需要在窄分析帶寬下做寬帶測量。R&S®FSW提供極短的掃描時間,即使在1kHz分辨率帶寬,8GHz掃描頻率范圍和電平小于-100dBm條件下,R&S®FSW也能夠在10秒內給出測試結果。使用縮放功能或者多視窗功能,用戶可以在檢查發射雜散細節的同時保持對整體頻譜的觀測。 為了達到高分辨率,雷達系統通常配備高穩晶振,他們能夠精確地確認物體的運動速度。射頻指標優異,R&S®FSW是測量振蕩器的理想選擇。 特征化雷達系統需要測量大量的脈沖參數。R&S®FSW-K6選件測量– 一次按鍵 –測試所有相關參數,如脈沖寬度,脈沖周期和脈沖上升/下降時間,脈沖內的功率平穩度,脈內相位調制以及眾多脈沖的趨勢分析。用戶選擇的結果可同時在屏幕顯示。R&S®FSW可以在幾秒鐘內給出雷達系統的測試全景圖。 • 多標準無線分析儀 R&S®FSW提供新多標準無線分析儀功能,此功能在FSW的160MHz分析帶寬內可以同時測量處于不同頻率點的不同標準信號(比如GSM, WCDMA, LTE信號)
• 高測量速率和快速掃描時間高達1000次掃描/秒。 ° 頻率列表模式:使用單個遠程控制命令可以觸發300個頻點的不同頻譜儀設置進行快速測量 • 與科技發展保持同步 R&S®FSW支持其它Rohde & Schwarz信號與頻譜分析儀,比如R&S®FSU和R&S®FSQ,同時也支持其它廠家的儀表(R&S®Legacy Pro) 的遠程控制命令集。使用R&S®FSW替代淘汰分析儀毫無問題。大多數情況下在測試過程中充分了驗證R&S®FSW的命令反饋。眾多成功使用R&S®FSV或者R&S®FSU替代淘汰分析儀案例已經證明這一方法的有效性。 保護測試機密數據,用戶可以使用獨立的固態硬盤(R&S®FSW-B18 選件)更換R&S®FSW的內置固態硬盤,避免儀表在外送校驗過程中任何機密數據離開實驗。分析儀自身的校準數據與用戶數據分別獨立存儲。 |
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