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英國(guó)ABI電路板故障檢測(cè)儀

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產(chǎn)品型號(hào)ABI-6400

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地北京市

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更新時(shí)間:2023-07-22 13:42:08瀏覽次數(shù):388次

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經(jīng)營(yíng)模式:代理商

商鋪產(chǎn)品:268條

所在地區(qū):北京北京市

聯(lián)系人:劉崢 (銷售經(jīng)理)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

英國(guó)ABI-6400電路板故障檢測(cè)儀產(chǎn)品突出特征:64路V-I曲線測(cè)試,1路v-i探棒測(cè)試

詳細(xì)介紹

英國(guó)ABI-6400電路板故障檢測(cè)儀產(chǎn)品突出特征:

1)產(chǎn)品體積小,重量輕,USB接口,適合攜帶

2)64路數(shù)字集成電路測(cè)試,64路V-I曲線測(cè)試,1路v-i探棒測(cè)試

3)同一器件可以在同一時(shí)間完成多種測(cè)試:功能測(cè)試,V-I曲線測(cè)試,溫度拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)試,連接狀態(tài)測(cè)試,管管腳電壓測(cè)試

4)測(cè)試庫達(dá)上萬種元器件,可以通過圖像化的編輯器自定義測(cè)試庫,可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫

5)整板測(cè)試非常簡(jiǎn)單,通過圖形化的測(cè)試庫編輯器,根據(jù)電路板原理,定義輸入激勵(lì)型號(hào)及輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào),快速建立板測(cè)試庫,快速批量檢測(cè)電路板的功能。

6)短路追蹤可以快速找到短路點(diǎn)

7)V-I曲線溫漂拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)定,方便找出不穩(wěn)定器件

8)V-I曲線電壓掃描范圍:-10v~+10v 掃描電壓范圍可以2.5V步進(jìn)調(diào)整,可調(diào)整為非對(duì)稱電壓掃描信號(hào),掃描信號(hào)可達(dá)幾十種。

8)邏輯電平閾值自定義。可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值,檢查不穩(wěn)定的元器件

9)邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯(cuò)誤結(jié)果.

10)配有離線測(cè)試盒,快速測(cè)試批量元器件。離線測(cè)試和在線測(cè)試功能*一至。

12)系統(tǒng)可以在64路的基礎(chǔ)上以64通道為單位進(jìn)行通道擴(kuò)充,直至256通道



產(chǎn)品介紹及特點(diǎn):

1)數(shù)字測(cè)試通道:64路(可擴(kuò)充到256通道).

2)模擬測(cè)試通道64路(可擴(kuò)充到256通道).

3)隔離通道:4路.總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能:用于解除總線競(jìng)爭(zhēng),確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373,74LS245,等),可提供4路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)。

4)快速掌握被測(cè)元件的多種信息,針對(duì)一個(gè)器件同時(shí)完成多種測(cè)試:數(shù)字ic功能測(cè)試,V-I曲線測(cè)試,曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù),各個(gè)管腳電壓值測(cè)量,管腳連接狀態(tài)測(cè)量顯示,

5)能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試;上萬種測(cè)試元件庫,元件種類:TTL,CMOS,Memory,Interface,LSI,CPU,PAL等.

6)邏輯電平閾值自定義。

7)邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,以確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯(cuò)誤結(jié)果.

8)輸入輸出邏輯時(shí)序圖形顯示、具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體有用測(cè)試信息。

9)IC型號(hào)識(shí)別:針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件,可“在線"或“離線"進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試。

10)讀寫存儲(chǔ)器功能測(cè)試:可針對(duì)記憶容量在2k×8到256k×8的EPROM進(jìn)行讀取,對(duì)比及將資料存入電腦中,可進(jìn)行在線或離線測(cè)試.可采取在線(離線)學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法,先把好板上EPROM中的程序讀出來,保存到計(jì)算機(jī)上,再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試;測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上,并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼

11)V-I曲線模擬特征分析測(cè)試:V-I曲線測(cè)試通過比較好和壞電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測(cè)故障.可把故障定位到電路結(jié)點(diǎn).V-I曲線試不涉及器件功能是逐管腳進(jìn)行的,不受器件封裝限制,任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測(cè)試,V-I曲線測(cè)試無需給電路板加電,測(cè)試安全。

12)5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過電壓及過電流保護(hù)功能.由系統(tǒng)自動(dòng)控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類型電路板的測(cè)試。

13)V-I曲線測(cè)試功能:可針對(duì)數(shù)位元件直接進(jìn)行測(cè)試,具有64組測(cè)量通道并可以擴(kuò)充到256組通道,測(cè)試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,其輸出電流由系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整設(shè)定.

14)圖形化元件測(cè)試庫的編輯,輸入輸出各個(gè)測(cè)試通道的邏輯時(shí)序可以由測(cè)試者圖形化自定義編輯,方便快捷的建立起測(cè)試庫中沒有的元件庫。

15)電路板整板測(cè)試,通過圖像化測(cè)試庫編輯器,測(cè)試者可以根據(jù)電路板的原理圖,將電路板的輸入輸出的時(shí)序進(jìn)行圖形化的測(cè)試庫編譯,自定義輸入通道的測(cè)試激勵(lì)信號(hào),根據(jù)電路板的原理推算出輸出通道的響應(yīng)時(shí)序信號(hào),并將測(cè)試庫保存在測(cè)試庫中,以備日后做整板檢測(cè)使用。

16)短路電阻測(cè)量功能:三段低電阻測(cè)量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,并自動(dòng)探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,及檢查短路點(diǎn)。

17)中英文測(cè)試軟件,體積小,usb口連接電腦

18)V-I曲線測(cè)試電壓-10v~+10v內(nèi)可以調(diào)整,正負(fù)電壓可以不一至,例如:-2.5v~+10v 限度地保證測(cè)試的安全性。

19)該設(shè)備可以64路通道為標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行擴(kuò)充,直至256路,保證了整板測(cè)試的路數(shù)為256路。

20)V-I曲線測(cè)試,可以觀測(cè)曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù),易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障(或稱為軟故障)。

21)數(shù)字集成電路測(cè)試中集電極開路,自動(dòng)上加上拉電阻。

22)V-I曲線測(cè)試具有單通道探筆測(cè)試功能,方便分立器件的V-I曲線測(cè)試

23)LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試:可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。



技術(shù)參數(shù):

數(shù)字集成電路測(cè)試參數(shù)規(guī)格
測(cè)試通道數(shù):64通道(可擴(kuò)展到256通道)
總線隔離信號(hào)信道數(shù):4通道or 8通道
實(shí)時(shí)比對(duì)功能:需有二個(gè)64通道, 或128通道
輸出驅(qū)動(dòng)電壓:TTL/CMOS 標(biāo)準(zhǔn)
輸出驅(qū)動(dòng)電流:電流依不同的邏輯電平閾值有下列區(qū)分

一般H-L 80mA @ 0.6V

一般 L-H 200mA @ 2V

Max. 400mA
驅(qū)動(dòng)電壓轉(zhuǎn)換比:>100V/µs
電壓范圍:+/-10V
輸入阻抗:10k
邏輯形態(tài):三態(tài)或開集極開路 (內(nèi)定或由程序設(shè)定)
驅(qū)動(dòng)邏輯形態(tài):Low, high, 三態(tài) (tri-state)
過電壓保護(hù)范圍:<0.5v,>5.5V
最長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間:根據(jù)被測(cè)元器件而定
測(cè)試方式:在線及離線測(cè)試 (需外接離線測(cè)試盒)


電源供給規(guī)格參數(shù)
自動(dòng)供給電源輸出:1 x 5V @ 5A 固定式

( 2 x 5V @ 5A 固定式 for 128信道)
過電壓保護(hù):7V
過電流保護(hù):7A


測(cè)試模式
單次(Single):單次測(cè)試
循環(huán)(Loop):反復(fù)測(cè)試, 或條件式循環(huán)測(cè)試(PASS或FAIL)
自動(dòng)掃描測(cè)試:可找到較為嚴(yán)格的邏輯電平閾值


邏輯電平閾值設(shè)定規(guī)格參數(shù)
最小調(diào)整解析:100mV
低信號(hào)位準(zhǔn)Low levels:TTL 0.1V to 1.1V

CMOS 0.1V to 1.5V
轉(zhuǎn)態(tài)位準(zhǔn)Switching levels:TTL 1.0V to 2.3V

CMOS 1.0V to 3.0V
高信號(hào)位準(zhǔn)High levels:TTL 1.9V to 4.9V

CMOS 1.9V to 4.9V
掃描低邏輯范圍Swept low levels:TTL 0.1V to 1.1V

CMOS 0.1V to 1.5V
掃描邏輯轉(zhuǎn)態(tài)范圍Swept switching levels:TTL 1.2V

CMOS 2.5V
掃描高邏輯范圍Swept high levels:TTL 1.9V to 4.9V

CMOS 1.9V to 4.9V


測(cè)試功能及參數(shù) 
集成電路功能測(cè)試根據(jù)測(cè)試庫的功能進(jìn)行測(cè)試,根據(jù)元件的原理和真值表進(jìn)行測(cè)試
元器件連接特性測(cè)試 
 短路狀態(tài)偵測(cè) Short circuit detection
 懸浮(浮接)狀態(tài)偵測(cè) Floating input detection
 開路狀態(tài)偵測(cè) Open circuit detection
 連接狀態(tài)偵測(cè) Linked pin detection
電壓量測(cè)Voltage:最小解析 10mV 范圍 +/-10V
 具邏輯狀態(tài)偵測(cè) Logic state detection
VI曲線測(cè)試:測(cè)試通道數(shù)64 – 256(擴(kuò)展)
 
電壓設(shè)定范圍 -10V to +10V (可自行設(shè)定),可以設(shè)置非對(duì)稱電壓掃描
 
測(cè)試電流 1mA
曲線拐點(diǎn)系數(shù):管腳的v-i曲線圖中的拐點(diǎn)圖形,隨溫度產(chǎn)生變化的系數(shù),對(duì)于判定溫漂的故障元件非常有幫助


配件


標(biāo)準(zhǔn)配件

離線測(cè)試測(cè)試盒


1 x 64 way test cable (64通道測(cè)試線)


1 x 64 way split test cable (2X32通道測(cè)試線)


1 x V-I probe assembly (V-I曲線測(cè)試探棒)


1 x BDO cable (隔離通道信號(hào)測(cè)試線)


1 x Short locator cable (短路電阻測(cè)試探棒)


1 x Ground clip (接地信號(hào)夾)


1 x PSU lead set (電源輸出線)


通訊及機(jī)箱  
內(nèi)置通訊接口PCI interface (通訊接口)
外置通訊接口及機(jī)箱MultiLink case (標(biāo)配) 為 USB.通訊端口
 External case (選購) 可升級(jí)到 5個(gè)安裝槽的SYSTEM 8 外接箱 (USB.通訊端口).


組件數(shù)據(jù)庫 
可測(cè)試元器件種類:TTL 54/74 logic, CMOS, Memory, Interface, LSI, Microprocessor, PAL/EPLD, Linear, Package, Special a及使用者定義
可測(cè)試元器件封裝類型:DIL, SOIC, PLCC, QFP,用戶可以自己配置測(cè)試夾和轉(zhuǎn)接座




















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