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丹東百特儀器有限公司

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Zeta100電位納米粒度分子量分析儀

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丹東百特儀器有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發(fā)的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測(cè)量三個(gè)功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器。

詳細(xì)介紹

一、產(chǎn)品介紹

Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發(fā)的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測(cè)量三個(gè)功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器。

Zeta電位測(cè)量采用電泳光散射（ELS）原理，通過(guò)測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)而得到zeta電位。一般來(lái)說(shuō)，zeta電位越高，顆粒之間相互排斥越劇烈，分散體系越穩(wěn)定。納米粒度分布采用動(dòng)態(tài)光散射（DLS）原理，顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動(dòng)，較小顆粒的移動(dòng)速度快于較大顆粒，在某個(gè)角度檢測(cè)記錄散射光強(qiáng)，散射光強(qiáng)的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動(dòng)速度，利用這些信息可以計(jì)算顆粒的粒度分布。分子量測(cè)量采用靜態(tài)光散射（SLS）原理，散射光的強(qiáng)度與分子量直接相關(guān)。測(cè)量不同濃度中測(cè)量散射光強(qiáng)，繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

二、主要技術(shù)指標(biāo)與性能

Zeta電位測(cè)試

測(cè)試范圍	-500mv ~ 500mv	粒度范圍	1nm-9500nm（與樣品有關(guān)）
樣品池容積	400μl	測(cè)試原理	ELS（電泳光散射）
散射角	15 度	濃度	40% w/v
相關(guān)器	1000通道線性相關(guān)器	電導(dǎo)率范圍	200 mS/cm

粒度分布測(cè)試

粒度測(cè)試范圍	1-9500nm（與樣品有關(guān)）	測(cè)試原理	DLS( 動(dòng)態(tài)光散射)
重復(fù)性誤差	≤1%（國(guó)標(biāo)樣D50 偏差）	相關(guān)器	1000 個(gè)物理通道
準(zhǔn)確性誤差	≤1%（國(guó)標(biāo)樣D50 偏差）	光源	固體激光器
樣品池容積	1ml / 4ml	激光器波長(zhǎng)	671nm
樣品池溫控范圍	15℃—90℃	激光器功率	50mW
溫控精度	±0.2℃	散射角	90 度

分子量測(cè)試

分子量范圍	1000Da—2x10⁷Da	準(zhǔn)確性誤差	≤ 10%
測(cè)試原理	SLS（靜態(tài)光散射）	重復(fù)性誤差	≤ 5%

三、主要應(yīng)用領(lǐng)域

包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳、藥物制備、水/ 油乳液、油漆、涂料、顏料、油墨、調(diào)色劑、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應(yīng)用等領(lǐng)域。

四、突出特點(diǎn)

BT-Zeta100電位測(cè)量采用電泳光散射（ELS）原理，通過(guò)測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)而得到zeta電位。一般來(lái)說(shuō)，zeta電位越高，顆粒之間相互排斥越劇烈，分散體系越穩(wěn)定。
納米粒度分布測(cè)量采用動(dòng)態(tài)光散射（DLS）原理，顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動(dòng)，較小顆粒的移動(dòng)速度快于較大顆粒，在某個(gè)角度檢測(cè)記錄散射光強(qiáng)，散射光強(qiáng)的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動(dòng)速度，利用這些信息可以計(jì)算顆粒的粒度分布。
分子量測(cè)量采用靜態(tài)光散射（SLS）原理，散射光的強(qiáng)度與分子量直接相關(guān)。測(cè)量不同濃度中測(cè)量散射光強(qiáng)，繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

五、良好的重復(fù)性

穩(wěn)定的折疊光路系統(tǒng)
高速數(shù)據(jù)采集與轉(zhuǎn)換模塊
高精度樣品池定位組件

六、良好的準(zhǔn)確性

粒度測(cè)試準(zhǔn)確性：用100nm 標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試，結(jié)果為101nm，誤差范圍為1%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO13321 允許誤差10% 的要求。

Zeta 電位測(cè)試準(zhǔn)確性：用-55mv 標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試，結(jié)果為-59.7994mv，誤差范圍為8.7%，小于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO13099 允許誤差10% 的要求。

分子量測(cè)試

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